Главная / Производители / Sino-Galvo / Системы контроля приборов Sino-Galvo

Системы контроля приборов Sino-Galvo

Плата управления фракционными лазерами

Регулируемые параметры точности сканирования
Функции калибровки лазерной мощности, длины волны, яркости
Улучшенная система защиты и изоляция
Поддержка протоколов связи RS232 и 485

Плата управления предназначена для управления фракционными лазерными системами. К отличительным особенностям относятся высокая изоляция и высокая электромагнитная совместимость.


Плата управления системами лазерной маркировки

Подключается к волоконному лазеру через порт последовательного ввода-вывода
Поддержка двух дополнительных широтно-импульсных модуляторов в диапазоне частот 1 кГц - 10 МГц
Защита от токовой перегрузки и скачков напряжения

Подключение платы к ПК по USB интерфейсу. Лазерные системы маркировки, работающие с установленной платой, демонстрируют лучшую производительность. Одна плата управления может синхронно управлять 5 комплектами гальванических сканеров.


Модуль оффлайн-управления системами лазерной маркировки

Множество периферийных интерфейсов
3 порта последовательного ввода-вывода
17 внешних прерывателей GPIO
1100 Мбайт памяти на сетевые порты

Гальванометрический сканатор разработан специально для высокоскоростной лазерной маркировки изделий. Компактная гальванометрическая система отличается полным отсутствием дрейфа. Охлаждающая система, установленная в гальванометрическом сканаторе, обеспечивает стабилизацию лазерного пучка. Через последовательный порт в соответствии с протоколом принимаются данные последовательного порта для управления маркировкой. Через сетевую связь в соответствии с протоколом принимаются сетевые данные для управления маркировкой.


Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции Sino-Galvo на территории РФ

Новые статьи
Лазерное ударное упрочнение (LSP) с использованием лазеров Litron

В статье рассматриваются перспективы применения лазерного ударного упрочнения для улучшения эксплуатационных характеристик высококачественной керамики. Для проведения эксперимента используется излучение высокой энергии 2-й, 3-ей и 4-ой гармоник наносекундного Nd:YAG лазера Litron LPY10J.

Методы и средства люминесцентной микроскопии

Современные тенденции развития люминесцентной микроскопии направлены, в первую очередь, на повышение разрешающей способности систем формирования изображения. Здесь к лючевую роль играют методы конфокальной и мультифотонной микроскопии.

      
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3