Главная / Производители / Becker & Hickl / FLIM системы Becker & Hickl

FLIM системы Becker & Hickl

FLIM системы

Будучи технологическим лидером в области производства оборудования и исследования методов подсчета одиночных фотонов, Becker & Hickl предлагает широкий спектр высококачественных систем FLIM для лазерных сканирующих микроскопов. Благодаря использованию запатентованной технологии многомерного коррелированного по времени счета одиночных фотонов (TCSPC) системы FLIM характеризуются сверхвысокой фотонной эффективностью. Таким образом, ученые, врачи, исследователи и другие пользователи могут легко использовать TCSPC FLIM микроскопию для визуализации флуоресценции, диффузной оптической томографии, корреляционная флуоресценции и многого другого.

Принцип TCSPC FLIM

Классический метод TCSPC возбуждает образец с помощью импульсного лазера, обнаруживает единичные фотоны флуоресцирующего света и строит распределение фотонов (т.е. гистограммы) плотности фотонов, возбужденных лазерным импульсом от эффективности регистрации фотонов. Этот метод известен с 1961 года. Ограничением классического метода является то, что он одномерный. Он не передаёт изображения напрямую, и он не может использоваться в сочетании с быстрым сканированием, применяющимся в современных лазерных сканирующих микроскопах. Проблема классического TCSPC-метода была решена с помощью многомерного TCSPC, представленного компанией Becker & Hickl в 1993 году. В данном случае процесс записи формирует распределение фотонов не только с течением времени после импульса возбуждения, но и по другим параметрам, таким как положение лазерного луча в области сканирования в момент регистрации фотона, длина волны фотонов или время от начала эксперимента. Применение многомерного TCSPC-метода в лазерной сканирующей микроскопии показано на рисунке.

TCSPC-FLIMprinciple-01-comp10-1024x379

Сканирующая головка микроскопа сканирует исследуемый образец сфокусированным пучком импульсного лазера высокой частоты. Для каждого обнаруженного фотона в TCSPC-приборе определяется время t, период лазерного импульса, местоположение лазерного пятна x, y в области сканирования. Из этих параметров строится распределение фотонов по пространственным координатам x, y и времени фотонов t. Процесс записи продолжается в течение большого числа периодов до тех пор, пока полезный уровень сигнал-шум фотонного распределения не будет достигнут. Из всех электронных FLIM-методов многомерный TCSPC-метод обеспечивает наиболее высокое временное разрешение. Он также позволяет получить лучшую точность времени жизни, или эффективность регистрации фотонов, при заданным числе фотонов зарегистрированных от образца. Метод TCSPC-FLIM имеет ряд других особенностей, важных для визуализации времени жизни биологичеких систем: он способен решать сложные профили кинетики затухания и устойчив к  динамическим изменениям параметров затухания флуоресценции. Кроме того, метод TCSPC-FLIM прекрасно совместим с конфокальной и многофотонной лазерной сканирующей микроскопией. Он не имеет никаких проблем совместимости с высокой скоростью сканирования используемой в этих системах: процесс записи продолжается в течение всего времения сканирования для получения необходимого соотношения сигнал-шум. Кроме того метод TCSPC FLIM использует оптические срезы конфокального или многофотонного сканирования: данные получены из точно определённой боковой позиции и с точно определённой плоскостью в образце, без загрязнения боковым рассеянием и внефокусной флуоресценцией.

Системы FLIM для лазерных сканирующих микроскопов
Система FASTAC FLIM
Система FLIM с широким полем обзора
2–4-канальная система FLIM
Пьезосканирующая система FLIM
Конфокальная и многофотонная система FLIM DCS-120
Системы FLIM для других методов сканирования
Новые статьи
Стабильность мощности лазеров Precilasers с частотным преобразованием
В статье описывается схема стабилизации мощности одночастотных лазеров с использованием замкнутого контура отрицательной обратной связи. Схема позволяет достичь стабильности <3% в условиях высоких и низких температур для лазеров Precilasers с удвоением частоты.
Высокопроизводительные источники неразличимых фотонов в телекоммуникационном C-диапазоне

В работе предлагается технология производства источников неразличимых фотонов в телекоммуникационном С-диапазоне на основе эпитаксиальных полупроводниковых квантовых точек. Новая методика позволяет детерминировано интегрировать квантовые излучатели в микрорезонаторы из кольцевых брэгговских решёток.

Исследование характеристик КМОП-камеры с обратной засветкой для регистрации когерентного рассеяния мягкого рентгеновского излучения

В статье описывается адаптация научной КМОП камеры Tucsen с обратной засветкой с целью улучшения возможностей регистрации когерентного рассеяния мягкого рентгеновского излучения.

Генераторы суперконтинуума для задач оптической когерентной томографии и флуоресцентной кросс-корреляционной спектроскопии

В работе представлено два возможных варианта использования источников суперконтинуума: в качестве источника зондирующего излучения для оптической когерентной томографии и в качестве источника возбуждения для флуоресцентной кросс-корреляционной спектроскопии.

Источник одиночных фотонов на основе монослоев WSe2 для квантовой коммуникации

В работе реализован протокол BB84 с твердотельным источником одиночных фотонов на основе атомарно тонких слоев WSe2, выделяющийся простотой изготовления и настройки свойств. Система конкурентоспособна в сравнении с передовыми решениями, а с внедрением улучшений в виде микрорезонаторов может превзойти их.

Квантовая микроскопия клеток с разрешением на пределе Гейзенберга

В статье описывается метод широкопольной квантовой микроскопии с пространственным разрешением 1,4 мкм, основанный на схеме с симметричными плечами холостых и сигнальных фотонов. Преимущества метода: высокие скорость, отношение сигнал/шум и устойчивость к рассеянному свету в сравнении с аналогичными методами квантовой визуализации.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3