Параметры | Стандартные значения |
Диаметр | ~ 1 – 15 мм |
Допуск на диаметр | ± 0.005 мм |
Толщина центра | ~ 1 – 10 мм |
Допуск по толщине центра | ± 0.03 мм |
Отклонение | Fig PV ≤ 0.5 мкм |
Acc PV ≤ 0.2 мкм | |
AS ≤ 0.15 мкм | |
Смещение центра | ≤ 5 мкм |
Угол наклона | ≤ 60″ |
Шероховатость поверхности | ≤ 5 нм |
В работе предлагается технология производства источников неразличимых фотонов в телекоммуникационном С-диапазоне на основе эпитаксиальных полупроводниковых квантовых точек. Новая методика позволяет детерминировано интегрировать квантовые излучатели в микрорезонаторы из кольцевых брэгговских решёток.
В работе реализован протокол BB84 с твердотельным источником одиночных фотонов на основе атомарно тонких слоев WSe2, выделяющийся простотой изготовления и настройки свойств. Система конкурентоспособна в сравнении с передовыми решениями, а с внедрением улучшений в виде микрорезонаторов может превзойти их.
В статье описывается метод широкопольной квантовой микроскопии с пространственным разрешением 1,4 мкм, основанный на схеме с симметричными плечами холостых и сигнальных фотонов. Преимущества метода: высокие скорость, отношение сигнал/шум и устойчивость к рассеянному свету в сравнении с аналогичными методами квантовой визуализации.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3