Источник света AvaLight-D(H)-S-(BAL)

AvaLight-D(H)-S-(BAL)

AvaLight-DH-S представляет собой комбинированный дейтерий-галогеновый источник света, обладающий высокой выходной мощностью и спектральным выходом в диапазоне от 190 нм до 2500 нм. AvaLight-D-S – дейтериевый источник света, являющийся отличным вариантом для измерений в УФ диапазоне от 190 нм до 400 нм. Спектральный выход модели AvaLight-D-S-DUV начинается со 175 нм, что позволяет  использовать источник в экспериментах в глубоком УФ. AvaLight-DH-S-BAL –  стабилизированный дейтерий-галогеновый источник, в спектре которого подавлен пик на 656 нм с применением встроенного дихроичного фильтра.

     

  • Сбалансированный источник света
  • Широкий спектр: 215-2500 нм
  • Высокая эффективность
Техническая спецификация
Источник света Сбалансированный дейтериевый (стандартный) Сбалансированная галогенная лампа
Диапазон длин волн 215-500 нм 500-2500 нм
Время прогрева 30 мин 20 мин
Мощность лампы 78 Вт / 0.75 А 5 Вт / 0.5 А
Срок службы лампы 2000 часов 1000 часов
Шум (AU) 2×10-5 10-4
Дрейф ± 0.5% / час ± 0.1% / час
Цветовая температура NA 3000 К
Мощность с волокном 200 мкм 6 мкВт 17 мкВт
Мощность с волокном 600 мкм 33 мкВт 160 мкВт
Мощность с волокном 1000 мкм 90 мкВт 448 мкВт
Потребляемая мощность 90 Вт (190 Вт для нагрева D-лампы 4-5 сек)
Требование к питанию 100-240 В переменного тока, 50/60 Гц
Габариты, вес 315×165×140 мм, прибл. 5 кг

 

Новые статьи
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

Точное оптическое детектирование контуров с помощью витой отражающей q-пластины

В работе предлагается оптический детектор контуров, основанный на отражающей витой жидкокристаллической q-пластине. Устройство состоит из зеркала и жидкокристаллического слоя толщиной 1,46 мкм с углом скручивания 69,2°.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3