Источники света AvaLight-CAL-(Mini)

AvaLight-CAL(-Mini)

AvaLight-CAL-(Mini) – это источник для спектральной калибровки, доступный в следующих исполнениях: ртуть-аргон (253.6-922.5 нм), неон (337-1084.5 нм), аргон (696.5-1704 нм), цинк (202.5-636.2 нм) и кадмий (214.4-643.8 нм). Стандартный разъем SMA обеспечивает простое и быстрое соединение между источником света и оптоволокном, что делает источник бюджетной системой калибровки длин волн для любого оптоволоконного спектрометра. Калибровка осуществляется через программное обеспечение AvaSoft-Full.

     

  • Компактный калибровочный источник света
  • Доступен в различных диапазонах длин волн (от УФ до БИК)
Техническая спецификация
Лампа HgAr Ne Ar Zn Cd
Диапазон длин волн 253.6-922.5 нм 337-966 нм 950-1704 нм 202.5-636.2 нм 214.4-634.8 нм
Мощность с волокном 600 мкм 1.6 мкВт
Коннектор SMA-905
Внутреннее напряжение 1 000 В переменного тока при 35 кГц, 11 мА 1500 В переменного тока при 27 кГц, 47.5 мА
Время прогрева 1 минута <10 минут
Срок службы лампы 5 000 часов 1 000 часов
Требуемая мощность 12 В, 260 мА 85-240 В, 1.0 А
Габариты, вес 150×78×37 мм, 510 г Блок лампы: 175×110×44 мм, 480 г, блок питания: 102×167×58 мм, 450 г

 

Новые статьи
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

Точное оптическое детектирование контуров с помощью витой отражающей q-пластины

В работе предлагается оптический детектор контуров, основанный на отражающей витой жидкокристаллической q-пластине. Устройство состоит из зеркала и жидкокристаллического слоя толщиной 1,46 мкм с углом скручивания 69,2°.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3