Главная / Библиотека / Погрешности при точном позиционировании

Погрешности при точном позиционировании

Теги edmund optics
Погрешности при точном позиционировании

Погрешности при точном позиционировании

Ошибки при позиционировании можно разделить на две группы: ошибки, допущенные при изготовлении прибора (приборные погрешности) и неточности, относящиеся к снятию отсчетов, случайные ошибки. Понимание источников этих ошибок может помочь в разработке стратегий для их предотвращения и исправления, позволит повысить качество оптической системы. В статье приведены основные характеристики, применяемые для описания ошибок в устройствах позиционирования, линейный трансляторах Edmund Optics.

b1490758973

 

Характеристика разрешения

По характеристике разрешения определяется наименьшее изменение расстояния, допустимого конструкцией прибора. Это важная характеристика устройств позиционирования, необходимая для плавного перемещения компонентов. Однако характеристика разрешения не определяет точности, поскольку рассчитывается отдельно. Эта величина зависит от технической спецификации контроллера, двигателя (при наличии) и механики, например, в позиционирующих устройствах Edmund Optics используются двигатели с микрошаговыми приводами. Они имеют высокое разрешение, необходимое для точного и плавного перемещения компонентов.

Характеристика точности

При перемещении между любыми двумя точками в диапазоне перемещения, характеристика точности перемещения позволяет определить наибольшее отклонение между теоретически и фактически пройденными расстояниями. Из практики известно, что при перемещении на короткие расстояния случайную погрешность можно заметно снизить.

b2551271271

Рисунок 1. Характеристика точности перемещения линейного транслятора Zaber™

Воспроизводимость

Воспроизводимость результатов - лучший показатель точности устройства позиционирования, у позиционирующих устройств определяется отклонением положения, если к нему несколько раз подводятся с одной и той же стороны. В спецификации к линейным трансляторам Zaber ™ указывается максимально возможное значение.

Мертвый ход

Для обеспечения перемещения механические узлы имеют небольшие зазоры (или люфты). При изменении направления эти зазоры создают небольшое провисание, мертвый ход, который необходимо компенсировать. Источник погрешности мертвого хода легко выявить и устранить, например, совершая только однонаправленное движение в том направлении, в котором замечен мертвый ход. Другой способ - приложить небольшую продольную силу, которая подтолкнет столик к одной из сторон зазора. Если позиционирующее устройство расположить вертикально, сила тяжести компенсирует люфт.

© Эдмунд Оптикс

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции Edmund Optics на территории РФ 

 

Теги edmund optics
Новые статьи
Методы и средства люминесцентной микроскопии

Современные тенденции развития люминесцентной микроскопии направлены, в первую очередь, на повышение разрешающей способности систем формирования изображения. Здесь к лючевую роль играют методы конфокальной и мультифотонной микроскопии.

      
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3