Главная / Библиотека / Техническая справка: разрешение в спектрометрах Avantes

Техническая справка: разрешение в спектрометрах Avantes

Теги полуширина разрешение avantes
Техническая справка: разрешение в спектрометрах Avantes

Разрешение - одна из ключевых характеристик, обсуждаемых при принятии решения о покупке спектрометра. При этом в спецификациях параметр разрешения часто завышается производителями, так как большинство покупателей не понимают, как правильно измерять разрешение. Более того, максимальное разрешение часто не требуется для конкретных приложений и может фактически снизить производительность.

Что такое разрешение?

Существует множество приложений спектроскопии, поэтому существует вероятность столкнуться с различными типами разрешения, такими как временное, пространственное и спектральное. При расчёте характеристик спектрометра, оптическая разрешающая способность прибора является ключевой. Она называется спектральным разрешением и обычно определяется как минимальное расстояние между пиками спектра, которое прибор может определить. Вне зависимости от приложения, разрешение будет являться важным параметром, который всегда стоит учитывать. Для многих стандартных приложений рабочий диапазон и чувствительность являются основными характеристиками, но, если мы встречаем приложения такие, как лазерно-искровая эмиссионная спектрометрия, рамановская спектроскопия, плазменная спектрометрия, лазерная спектроскопия и т. д., разрешение становится важным параметром. По сути, разрешение определяет, насколько хорошо пики спектра можно увидеть, различить и отделить друг от друга. На рисунке 1 изображены спектры с различным разрешением для разных размеров щелей.

Рис 1

Рисунок 1. Спектры, полученные при разных размерах щелей

Это легко может быть выполнено с помощью опции сменной щели (опция –RS) для спектрометров Avantes. В данном примере используются следующие щели:
•    Синяя линия = 10 мкм
•    Красная линия = 25 мкм
•    Желтая линий = 50 мкм
•    Зеленая линия = 100 мкм
С узкой щелью разрешение выше, поэтому два пика можно явно различить. При более низком разрешении, форма пиков становится шире. Что в конце концов приведет к одному «размазанному» импульсу, образованному двумя перекрывающимися пиками, где нет возможности различить отдельные пики. 
Следовательно, измерения со спектрами, в которых присутствуют пики, нуждаются в спектрометре с более высоким разрешением (лазерно-искровая эмиссионная спектрометрия, рамановская спектроскопия, плазменная спектрометрия). Значение разрешения определяется путем нахождения полуширины (FWHM). Это делается при помощи измерения ширины пика на половине максимальной интенсивности. 

Рис 2

Рисунок 2. Измерение ширины пика на половине максимальной интенсивности

Для дальнейшего понимания разрешения необходимо детальнее изучить спектрометр. В качестве пояснения рассматривается спектрометр на основе оптической схемы 75 мм Черни-Тернера, Avantes. В этом спектрометре есть проекция изображения щели на детектор 1:1. Таким образом, если размер щели составляет 50 мкм, на детектор будет спроецирована небольшая полоска света 50 мкм (но для каждого цвета/длины волны полоска будет находиться в разных местах). При выборе спектрометра для измерения длины волны (от 360 до 780 нм), диапазон 420 нм будет проецироваться на 2048 пикселей, поэтому каждый пиксель будет покрывать 0,21 нм. Это также называется дисперсией пикселей и ее не следует путать с разрешением. Ширина пикселя данного детектора составляет 14 мкм. Когда 50 делится на 14, изображение проецируется на 3,6=4 пикселя. При 4-х пикселях теоретическое разрешение составляет 4∙0,21=0,84 нм. Однако, для предотвращения ситуации при которой два пика будут перекрываться друг с другом, следует добавить один пиксель на разделение, теоретическое разрешение составит 5∙0,21=1,05 нм.

Рис 3

Рисунок 3. Спектрометр на основе схемы Черни-Тернера

Из-за выравнивания, аберраций и допусков на оптику, значение полуширины (FWHM) может немного отличаться. Для примера, разобранного выше, разрешение по спектрометру Avantes составляет 1,17 нм.  Заявленные значения на сайте Avantes основаны на данных измерений встроенных спектрометров, а не на теоретических результатах, которые более оптимистичны, чем реальные значения. Средние значения находятся в диапазоне от 1,10 до 1,20 нм. Указывая фактические значения, Avantes гарантирует, что пользователь не будет впоследствии разочарован в приборе. 
Узкая щель будет проецировать свет только на несколько пикселей. Чем шире щель, тем больше пикселей подсвечивается. Использование щели большего размера увеличивает количество света, попадающего на спектрометр. Однако яркость одного пикселя не увеличивается, а будут освещаться соседние пиксели. Использование размера щели меньшего чем пиксель, приведет к уменьшению яркости на этом пикселе. На рисунке 4 видны различия для следующих значений ширины щели:
•    Синяя линия = 10 мкм
•    Красная линия = 25 мкм
•    Желтая линия = 50 мкм
•    Зеленая линия =100 мкм

Рис 4

Рисунок 4. Спектры, полученные при разных размерах щелей

Когда измеряются пики, результат зависит от того, где проецируется большая часть света. По синему спектру, что большая часть спектра проецируется на один пиксель, это дает лучшую производительность с точки зрения разрешения. Когда пик покрывает несколько пикселей – это усложняет нахождение точного положения пика. В этой ситуации может быть использован метод интерполяции кубическим сплайном. Это позволяет определить положение пика более точно, но влияет на полуширину (FWHM).

 

© Avantes

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции Avantes на территории РФ

Online заявка

Теги полуширина разрешение avantes
Новые статьи
Характеристика свойств субхондральной кости человека с помощью спектроскопии в ближней инфракрасной области (БИК)

Дегенеративные заболевания суставов часто характеризуются изменениями свойств суставного хряща и субхондральной кости. Эти изменения часто связаны с толщиной субхондральной пластинки и морфологией трабекулярной кости. Таким образом, оценка целостности субхондральной кости может дать важные сведения для диагностики патологий суставов. В данном исследовании изучается потенциал оптической спектроскопии для характеристики свойств субхондральной кости человека. Образцы остеохондральной кости (n = 50 – количество образцов) были извлечены из коленного сустава трупа человека (n = 13) в четырех анатомических точках и подвергнуты БИК-спектроскопии(в ближней инфракрасной области). Затем образцы были исследованы с помощью микрокомпьютерной томографии для определения морфометрических характеристик субхондральной кости, включая: толщину пластинки (Sb.Th), толщину трабекул (Tb.Th), объемную долю (BV/TV) и индекс модели структуры (SMI). Связь между свойствами субхондральной кости и спектральными данными в 1-м (650 - 950 нм), 2-м (1100 - 1350 нм) и 3-м (1600-1870 нм) оптических окнах была исследована с помощью многомерного метода частичных наименьших квадратов (PLS) регрессии. Значимые корреляции (p < 0.0001) и относительно низкие ошибки прогнозирования были получены между спектральными данными в 1-м оптическом окне и Sb.Th (R2 = 92.3%, ошибка = 7.1%), Tb.Th (R2 = 88.4%, ошибка = 6.7%), BV/TV (R2 = 83%, ошибка = 9.8%) и SMI (R2 = 79.7%, ошибка = 10.8%). Таким образом, БИК-спектроскопия в 1-м тканевом оптическом окне способна характеризовать и оценивать свойства субхондральной кости и потенциально может быть адаптирована во время артроскопии.

Моделирование нервного волокна на основе оптического волновода

Миелинизированные аксоны являются многообещающими кандидатами для передачи нервных сигналов и света ввиду их волноводных структур. С другой стороны, с появлением таких заболеваний, как рассеянный склероз и нарушений формирования и передачи нервных сигналов из-за демиелинизации, понимание свойств миелинизированного аксона как волновода приобретает большую важность. Настоящее исследование направлено на то, чтобы показать, что профиль показателя преломления (ПП) миелинизированного аксона играет существенную роль в передаче лучей в нем. 

Оптимизация обнаружения сверхслабых световых потоков

В ходе исследования, описанного в данной статье, были объединены статистическая модель, анализ шумов детектора и эксперименты по калибровке. Согласно результатам, видимый свет может быть обнаружен с помощью ПЗС камеры с электронным умножителем с соотношением сигнал/шум, равным 3, для потоков с количеством фотонов менее 30 фотонов с−1 см−2.

Диагностика импульсного плазменного потока

Импульсные плазменные потоки в плазменных ускорителях широко используются для решения ряда научных и практических задач. Особый интерес среди применений импульсных плазменных потоков представляют термоядерный синтез и астрофизические исследования, например, экспериментальное исследование взаимодействия импульсного плазменного потока с материалами.

Полные высокопроизводительные настольные системы сканирования HSI PUSH-BROOM

Применение гиперспектральной визуализации заметно расширилось за последние годы. Тем не менее, остается общая проблема, а именно: предоставление полного интегрированного решения для фиксации 2-D гиперспектральных изображений в компактном настольном формате, которое предоставляет подробную спектральную информацию для определения компонентов, количества и их распределения в плоскости сканирования.

Автофлуоресцентная микроскопия — идентификация бактериальных сигналов на образцах горных пород
Распространенным методом обнаружения микробов в жидких и нежидких образцах является окрашивание флуоресцентными красителями, при котором образцы окрашиваются флуорофором, возбуждаемым фотонами от источника света. Флуорофоры — это молекулы, которые проявляют флуоресценцию, и могут быть биомолекулами естественного происхождения (в этом случае флуоресценция называется автофлуоресценцией), флуоресцентными красителями (синтезированными молекулами) или минералами. Конкретные применения красителей включают обнаружение и перечисление бактерий, визуализацию экспрессии генов и обнаружение биомолекул, которые иначе невозможно было бы отследить.
У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3