Метрологическое оборудование для анализа тонких пленок
Metricon выпускает специализированные оптические призменные рефрактометры для высокоточных измерений показателей преломления и толщин тонких пленок. Разработанные компанией аппаратура и методы наравне конкурируют с интерферометрией и эллипсометрией в задачах анализа оптических пленок.
Приборы компании Metricon обеспечивают контроль тонких оптических пленок на всех этапах производства и исследований.
Измерение показателя преломления пленок с точностью до 0,0005, измерение толщины тонких пленок с точностью до 5 нм, время измерения не более 1 минуты.
Наука в деталях
Модуль спектроскопии насыщенного поглощения представляет собой компактную оптическую систему, предназначенную для получе...
Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия — один из наиболее эффективных неразрушающих методов трехмерной визуализац...
АннотацияВ работе Light-induced quantum friction of carbon nanotubes in water, опубликованной в июне 2026 года в жу...
Недавно коллективом авторов университета Астона (Великобритания) в престижном высокорейтинговом журнале Nanophotonics бы...
Разработка и экспериментальное исследование перестраиваемого полупроводникового лазера, работающего в непрерывном режиме...
info@inscience.ru
+7 (495) 199-0-199
Написать в чат
Оставить заявку
Написать в чат