Метрологическое оборудование для анализа тонких пленок
Metricon выпускает специализированные оптические призменные рефрактометры для высокоточных измерений показателей преломления и толщин тонких пленок. Разработанные компанией аппаратура и методы наравне конкурируют с интерферометрией и эллипсометрией в задачах анализа оптических пленок.
Приборы компании Metricon обеспечивают контроль тонких оптических пленок на всех этапах производства и исследований.
Измерение показателя преломления пленок с точностью до 0,0005, измерение толщины тонких пленок с точностью до 5 нм, время измерения не более 1 минуты.
Наука в деталях
Исследователи из KAIST и компании PASQAL представили экспериментальную платформу на основе нейтральных атомов для решени...
Разработка и экспериментальное исследование перестраиваемого полупроводникового лазера, работающего в непрерывном режиме...
Мир клеток скрыт от человеческого глаза — даже мощные оптические микроскопы не способны показать детали меньше 200 нм. Ч...
Недавно исследовательская группа профессора Ху Вэя из Нанкинского университета добилась значительного прогресса в област...
В представленной работе авторами была продемонстрирована компактная система голографической проекции, основанная на инте...
info@inscience.ru
+7 (495) 199-0-199
Написать в чат
Оставить заявку
Написать в чат