Спектрометры

Система спектроскопии переходного поглощения TA-PRO

Система TA-PRO — комплекс для сверхбыстрой спектроскопии накачки-зондирования. В состав системы входят оптические линии задержки, лазерная инфраструктура, электронные модули управления, программное обеспечение и средства автоматизированного сбора данных, что обеспечивает готовое решение для исследований динамики возбуждённых состояний.

  • Полностью интегрированная Pump-Probe система

  • Ti-Saphire и Yb-Based лазеры

  • Автоматизированный сбор данных

Спектрометры переходного поглощения E-TA-PRO

Система спектроскопии переходного поглощения E-TA-PRO, работающая в режиме пропускания и отражения. Спектральный диапазон 280-2200 нм. Временное окно до секунд

  • Диапазон от УФ до ближнего и среднего ИК

  • Модуль расширения электрической накачки

Система импульсного фотолиза LFP100

Система LFP100 предназначена для регистрации переходного поглощения в наносекундном диапазоне времён и исследования фотоиндуцированных состояний. Комплекс применяется для изучения фотокаталитических процессов, фотосинтеза и механизмов переноса заряда в различных материалах.

  • Наносекундное временное разрешение

  • Высокая чувствительность измерений

  • Диапазон от видимого до ближнего ИК

  • DPSS-лазер в составе системы

Система теневой визуализации UPSI100

Система UPSI100 использует метод накачки-зондирования для визуализации сверхбыстрых процессов, возникающих при взаимодействии лазерного излучения с веществом. Управляемая задержка между импульсами позволяет последовательно восстанавливать динамику изменений образца с пикосекундным временным разрешением.

  • Пикосекундное временное разрешение

  • Полностью автоматизированная двухмерная электронно-управляемая подвижная платформа для образцов. 

  • Исследование лазерного воздействия на материалы

  • Программное обеспечение для сбора/анализа данных

Система ТГц-спектроскопии THZ100

Система THZ100 предназначена для исследования динамики носителей заряда и фотоиндуцированных процессов методом временно-разрешённой терагерцовой спектроскопии. Комплекс поддерживает работу с растворами, тонкими плёнками и полупроводниковыми структурами и оснащён автоматизированной камерой образцов.

  • Временно-разрешённая ТГц-спектроскопия

  • Исследование полупроводников и фотокатализаторов

  • Высокое отношение сигнал/шум

  • Автоматизированная измерительная платформа

Система флуоресцентной спектроскопии TPL300

Система TPL300 предназначена для проведения стационарных и переходных флуоресцентных измерений в рамках единой платформы. Комплекс сочетает компактную конструкцию, высокую стабильность и специализированное программное обеспечение для сбора, визуализации и анализа спектроскопических данных.

  • Стационарная и переходная флуоресценция

  • Измерение времени жизни флуоресценции

  • Автоматизированный сбор и анализ данных

  • Компактная интегрированная конструкция

Система спектроскопии переходного поглощения TA-FL

Система флуоресцентной спектроскопии TA-FL, оснащення ячейкой Керра. В системе присутствует электронно-оптическая камера.

  •  Спектральный диапазон ячейки Керра 350-1100 нм

  • Временное разрешение электронно-оптической камеры до 3.5 пс

Конфокальная FLIM-микроскопия FLIM300

Система FLIM300 объединяет конфокальную микроскопию, визуализацию времени жизни флуоресценции и спектральный анализ в едином исследовательском комплексе. Благодаря модульной архитектуре система поддерживает интеграцию дополнительного оборудования и позволяет проводить комплексные исследования оптических и электрических свойств материалов.

  • Конфокальная FLIM-визуализация

  • Флуоресцентная и рамановская спектроскопия

  • Визуализация фототока и электролюминесценции

TA-PRO-NANO

Система спектроскопии переходного поглощения TA-PRO-NANO, оснащенная наносекундным белым лазером суперконтинуума, модулем расширения электрической накачки и модулем микроскопической визуализации.

  • Диапазон работы лазера 350-1800 нм

  • Максимальное напряжение модуля расширения электрической накачки 10 В

  • Спектральный диапазон модуля микроскопической визуализации 400-800 нм