Главная / Новости / Графен, образованный под микроскопом, достаточно мал для электроники

Графен, образованный под микроскопом, достаточно мал для электроники

1

Ученые Университета Райса, Университета Теннесси и Национальная лаборатория Окриджа (ORNL) использовали лазер с длиной волны 405 нм, установленный на сканирующем электронном микроскопе (СЭМ), чтобы сформировать лазерно-индуцированный графен (ЛИГ), многофункциональную пену графена, которая обычно напрямую записывается с помощью инфракрасного (ИК) лазера в материал-предшественник на основе углерода. Размер созданных  элементов почти в 10 раз меньше по сравнению с записываем ИК-лазером графеном.

Исследователи использовали ЛИГ для создания гибких датчиков влажности, которые были изготовлены непосредственно на полиимиде. Устройства могли определять дыхание человека со временем отклика 250 миллисекунд. «Это намного быстрее, чем частота выборки для большинства коммерческих датчиков влажности, и позволяет отслеживать быстрые локальные изменения влажности, которые могут быть вызваны дыханием», - сказал исследователь Майкл Стэнфорд.

Новые статьи
Квантовая обратная связь с использованием оборудования Zurich Instruments
В статье описаны конфигурации и характеристики локальной и глобальной квантовой обратной связи при использовании оборудования Zurich Instruments для активного сброса кубитов, масштабируемых квантовых вычислений и квантовой коррекции ошибок.
Улучшения реализаций систем квантового распределения ключей в атмосферных каналах с использованием сверхпроводящих детекторов

В статье рассматриваются последние достижения в решении проблем систем квантового распределения ключей, работающих на длине волны 1550 нм в открытом оптическом канале связи.  Уменьшение влияния солнечной засветки и атмосферной турбулентности достигнуто благодаря сверхпроводящим детекторам.

Корреляция фотонов с использованием современного оборудования IDQ

В обзоре затрагиваются такие области применения корреляции фотонов, как характеристика источника одиночных фотонов, фотонная корреляционная спектроскопия, улучшение отношения сигнал/шум в LiDAR приложениях.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3