Используя «жуткий» феномен квантовой физики, исследователи из Калифорнийского технологического института открыли способ удвоить разрешение световых микроскопов.
В статье, опубликованной в журнале Nature Communications, группа под руководством Лихонга Ванга, профессора медицинской инженерии и электротехники Брена, демонстрирует достижение скачка вперед в микроскопии благодаря квантовой запутанности. Квантовая запутанность — это явление, при котором две частицы связаны таким образом, что состояние одной частицы связано с состоянием другой частицы независимо от того, находятся ли частицы где-либо рядом друг с другом. Альберт Эйнштейн назвал квантовую запутанность «жутким действием на расстоянии», потому что его теория относительности не могла его объяснить.
В статье описывается биочип, сочетающий электрод для определения концентрации фенилаланина и микрофлюидный модуль для регистрации скорости потоотделения, изготовленный с использованием лазера. Биочип используется для неинвазивного мониторинга состояния пациентов с метаболическими нарушениями.
В статье описана генерация сверхширокого плоского суперконтинуума (350-1750 нм) с одномодовым поперечным профилем в видимом диапазоне. Для накачки микроструктурированного оптического волокна используется лазер с длиной волны 1064 нм, вторая гармоника накачки генерируется непосредственно в волокне.
В статье приводится применение и основные параметры одночастотных лазеров. Сравниваются лазеры CNI серии MSL с известными европейскими и американскими производителями.
В статье описан метод генерации суперконтинуума, расширенного в видимый диапазон. За счет четырехволнового смешения накачка 1064 нм создает антистоксовы и стоксовы компоненты на 831 нм и 1478 нм. Фазовый синхронизм обеспечивается благодаря микроструктурированному мультимодальному волокну особой конструкции.
В статье описывается усовершенствование метода лазерно-водоструйной обработки: добавление коаксиально-кольцевой аргоновой струи, мгновенно очищающей отверстие от образующегося осадка. Таким образом сохраняется высокий объем абляции при создании глубоких отверстий в сложно обрабатываемых материалах.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3
