Главная / Новости / Матрица фотодетекторов с перепонкой для 3D-оптоэлектроники

Матрица фотодетекторов с перепонкой для 3D-оптоэлектроники

News-06Nov-img

Подобно поэтам и художникам, ученых часто вдохновляет природа. В недавнем примере исследователи черпали вдохновение как в паутине, так и в сложных глазах пауков, чтобы создать систему трехмерного фотодетектирования с большим полем зрения и без аберраций.

Составные конструкции, имитирующие глаза, очень привлекательны для трехмерной оптоэлектроники, особенно для систем фотодетектирования, которые требуют большого поля зрения и широкоугольного отражения. Но сборка высокопроизводительной оптоэлектроники на изогнутых микролинзах стала камнем преткновения для инженеров, препятствующим прогрессу в создании систем 3D-фотодетектирования, которые могут принести пользу биомедицинским и военным приложениям визуализации.

Чтобы решить эту проблему, команда, в которую вошли исследователи из США, Индии и Южной Кореи, рассмотрела фрактальный дизайн паутины, который долгое время очаровывал инженеров благодаря уникальной способности повторяющегося узора распределять напряжения и выдерживать повреждения, сохраняя при этом прочность и функциональность.

Новые статьи
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

Точное оптическое детектирование контуров с помощью витой отражающей q-пластины

В работе предлагается оптический детектор контуров, основанный на отражающей витой жидкокристаллической q-пластине. Устройство состоит из зеркала и жидкокристаллического слоя толщиной 1,46 мкм с углом скручивания 69,2°.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3