Спектральные датчики MEMS-FPI компании Hamamatsu оснащены встроенным MEMS-интерферометром Фабри-Перо и фотодиодом на основе InGaAs для измерения спектров в ближнем ИК-диапазоне. Благодаря высокой чувствительности к длинам волн ближнего ИК-диапазона и компактным размерам, датчики подходят для портативных устройств, используемых для идентификации материалов. Например, как показано в этом видео, датчик MEMS-FPI и источник света NIR интегрированы в портативное устройство для идентификации текстильных материалов на основе их спектров отражения.
В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3