Оптическое покрытие

      Datasheet

  • Ионное напыление
  • 60-точечная оптическая система управления
  • Радиочастотный источник ионов
  • Автоматическое управление
  • Двойная электронно-лучевая пушка E-типа
  • Система управления вращением кристалла из 6 частей
Техническая спецификация
  • Высокий коэффициент пропускания в целевом диапазоне длин волн;
  • Низкий уровень отражения;
  • От дальнего ультрафиолетового излучения до инфракрасного диапазона;
  • Низкое поглощение на уровне чувствительности в одну миллионную часть;
  • Высокий порог повреждаемости;
  • Адаптируемый под требования.

 

Категория покрытия Диапазон длин волн (нм) Угол падения (°) Отражение (%)
УФ одночастотное антибликовое покрытие 266 0-15° R < 0.2%
УФ одночастотное антибликовое покрытие 355 0-10° R < 0.2%
Антибликовое покрытие дальнего ультрафиолетового излучения 247-250 0-15° R < 0.2%
Широкополосное антибликовое покрытие 380-480 0-30° R < 0.5%
Двухчастотное антибликовое покрытие 355-532 0-15° R < 0.5%
Двухчастотное антибликовое покрытие 532-1064 R < 0.2%
Широкополосное антибликовое покрытие 770-1070 0-30° R < 0.5%
Широкополосное антибликовое покрытие 1530-1570 0-20° R < 0.2%
Широкополосное антибликовое покрытие 1700-2500 0-30° R < 0.5%

 

  • Высокое отражение в заданном диапазоне длин волн и под углом падения;
  • Можно выбрать металлическую и диэлектрическую среду;
  • Высокий порог повреждаемости;
  • Адаптируемый под требования.
Категория покрытия Диапазон длин волн (нм) Угол падения (°) Отражение (%)
Одночастотное покрытие с высоким коэффициентом отражения 355 45° > 99.5%
Одночастотное покрытие с высоким коэффициентом отражения 266 45° > 99.5%
Двухчастотное покрытие с высоким коэффициентом отражения 343/532 40° > 60%/99%
Двухчастотное покрытие с высоким коэффициентом отражения 633/1064 45° > 80%/99.5%
Широкополосное покрытие с высоким коэффициентом отражения 440-540 > 99.5%
Широкополосное покрытие с высоким коэффициентом отражения 630-690 40°-50° > 99%
Широкополосное покрытие с высоким коэффициентом отражения 1020-1085 43-47° > 99.8%
Широкополосное покрытие с высоким коэффициентом отражения 1450-1550 44-46° > 99.5%

 

  • Высокая спектральная точность;
  • Можно выбрать металлическую и диэлектрическую среду;
  • Адаптируемый под требования.
Категория покрытия Диапазон длин волн (нм) Угол падения (°) Техническая спецификация
Металлодиэлектрический светоделитель 850±5 T:R=1:1
Разделитель одного луча 1064 T/R=40/60; T/R=50/50; T/R=30/70
Широкополосный светоделитель 500-700 T/R=50/50
Делитель луча с плоской поляризацией 1064 56° Tp > 95%;  Rs > 99%;  Tp/Ts>100:1
Призменный поляризационный светоделитель 532 45° Tp > 98%;  Rs > 99.5%;  Tp/Ts>1000:1
Призменный деполяризационный светоделитель 532 45° T/R=48:48; |Rs-Rp| < 5%
Призменный деполяризационный светоделитель 700-1000 45° T/R=45:45; |Rs-Rp| < 5%

 

  • Высокий коэффициент прозрачности в полосе пропускания;
  • Высокая степень оптической плотности;
  • Высокая стабильность;
  • Спектральное уплотнение каналов;
  • Адаптируемый под требования.
Категория покрытия Техническая спецификация
Отсекающий фильтр

Коэффициент прозрачности в полосе пропускания T > 90%;

Диапазон отсечки может основываться на требованиях заказчика;

Глубина реза OD3

Полосовой фильтр

Центральная длина волны: 488nm/905 нм/1064 нм/1545 нм/1575 нм;

         Полная ширина линии на половине высоты: 10 нм-200 нм;

Пиковое пропускание > 75%; Глубина реза OD3;

Диапазон отсечки может основываться на требованиях заказчика

 

Новые статьи
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

Точное оптическое детектирование контуров с помощью витой отражающей q-пластины

В работе предлагается оптический детектор контуров, основанный на отражающей витой жидкокристаллической q-пластине. Устройство состоит из зеркала и жидкокристаллического слоя толщиной 1,46 мкм с углом скручивания 69,2°.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3