Главная / Производители / EOT / Фотодетекторы ЕОТ

Фотодетекторы ЕОТ

EOT-Logo-860x280

Фотодетекторы ЕОТ для диапазона до 10 ГГц

Внутреннее смещение
Дополнительный источник переменного тока частотой до 2 Гц
Внешний источник мощности
Выходной мониторинг лазеров с модуляцией добротности
Выходной мониторинг лазеров с синхронизацией мод

Установка коаксиального кабеля через BNC-коннектор фотодетектора и подключение ограничителя на 50 Ом к осциллографу или анализатору спектра - все, что требуется для начала работы. В линейку входят кремниевые фотодетекторы ET-2030, ET-2040, ET-2060 и ET-2070, а также фотодетекторы ET-3000 и ET-3010 на основе InGaAs.


Фотодетекторы ЕОТ для диапазона более 10 ГГц

Внутреннее смещение
Дополнительный источник переменного тока частотой до 2 Гц
Внешний источник мощности
Выходной мониторинг лазеров с модуляцией добротности
Выходной мониторинг лазеров с синхронизацией мод

Установка коаксиального кабеля через SMA-коннектор фотодетектора и подключение ограничителя на 50 Ом к осциллографу или анализатору спектра - все, что требуется для начала работы. Линейка включает в себя фотодетекторы ET-3500, ET-3600, ET-5000 на основе InGaAs, а также фотодетекторы ET-4000 на основе GaAs.


Усиленные фотодетекторы ЕОТ

Ширина полосы до 10 Гц
Высокочастотный мониторинг модулированного излучения непрерывных лазерных источников
Внешний источник мощности
Мониторинг мощностей излучения не более 1 мВт

Установка коаксиального кабеля через BNC/SMA-коннектор фотодетектора и подключение ограничителя на 50 Ом к осциллографу или анализатору спектра - все, что требуется для начала работы. Линейка состоит из кремниевых фотодетекторов ET-2030A, фотодетекторов ET-3000A, ET-3500A, ET-5000A на основе InGaAs и фотодетекторов ET-4000A на основе GaAs.


Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции ЕОТ на территории РФ

Новые статьи
Исследование характеристик КМОП-камеры с обратной засветкой в видимом диапазоне

В статье исследуются характеристики научной камеры Tucsen Dhyana95 с BSI-sCMOS сенсором (КМОП-сенсором с обратной засветкой) при регистрации видимого излучения. Проводится сравнение характеристик BSI-sCMOS камеры со спецификацией BSI-CCD камеры.

Лазерное ударное упрочнение (LSP) с использованием лазеров Litron

В статье рассматриваются перспективы применения лазерного ударного упрочнения для улучшения эксплуатационных характеристик высококачественной керамики. Для проведения эксперимента используется излучение высокой энергии 2-й, 3-ей и 4-ой гармоник наносекундного Nd:YAG лазера Litron LPY10J.

Методы и средства люминесцентной микроскопии

Современные тенденции развития люминесцентной микроскопии направлены, в первую очередь, на повышение разрешающей способности систем формирования изображения. Здесь к лючевую роль играют методы конфокальной и мультифотонной микроскопии.

      
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3