Доступен широкий ассортимент стандартных дефлекторов для длин волн от 266 до 1500 нм. Двухмерное сканирование может быть достигнуто путем последовательного каскадирования двух дефлекторов.
АО-дефлекторы обеспечивают равномерную эффективность дифракции по всему углу сканирования с постоянной пропускной способностью как при одномерном или двумерном сканировании, так и при отклонении луча на фиксированный угол. Эти устройства используются для таких задач сканирования, как обработка материалов и цифровая обработка изображений.
Основные характеристики АОД:
Модель | Спектральный диапазон, нм | Рабочая частота, МГц | Угол сканирования, мрад | Рабочая апертура, мм |
AODF 4170-UV | 343; 355 | 170 | 4,95 | 7,0 |
AODF 4090-6 | 1064 | 72,5-107,5 | 56,0 | 2,0 |
AODF 4075-IR | 1064-1100 | 59-91 | 8,1 | 2,5 |
AODF 4090-7 | 440-530 | 60-115 | 44,0 | 8,5 |
AODF 2690-UV | 266-355 | 432 | 4,9 | 7 х 60 |
AODF 4170 | 355 | 130-210 | 4,9 | 7 х 20 |
AODF 4100-UV | 364 | 75-125 | 29,5 | 4 х 14 |
AODF 4200-UV | 266 | 135-265 | 5,5 | 1 х 69 |
AODF 4200-VI | 405-488 | 150-250 | 58,0 | 4,8 |
AODF 4085 | 750-1064 | 55-110 | 42,5 | 15,0 |
AODF 4210-UV | 266 | 210 | 4,6 | 5,0 |
AODF 4055-4 | 780-980 | 35-70 | 44,3 | 3,5 х 14 |
AODF 4210-IR | 830 | 140-280 | 27,6 | 2-6 |
Наука в деталях
Недавно коллективом авторов университета Астона (Великобритания) в престижном высокорейтинговом журнале Nanophotonics бы...
Разработка и экспериментальное исследование перестраиваемого полупроводникового лазера, работающего в непрерывном режиме...
Мир клеток скрыт от человеческого глаза — даже мощные оптические микроскопы не способны показать детали меньше 200 нм. Ч...
Недавно исследовательская группа профессора Ху Вэя из Нанкинского университета добилась значительного прогресса в област...
В представленной работе авторами была продемонстрирована компактная система голографической проекции, основанная на инте...
info@inscience.ru
+7 (495) 199-0-199
Написать в чат
Оставить заявку
Написать в чат