Доступен широкий ассортимент стандартных дефлекторов для длин волн от 266 до 1500 нм. Двухмерное сканирование может быть достигнуто путем последовательного каскадирования двух дефлекторов.
АО-дефлекторы обеспечивают равномерную эффективность дифракции по всему углу сканирования с постоянной пропускной способностью как при одномерном или двумерном сканировании, так и при отклонении луча на фиксированный угол. Эти устройства используются для таких задач сканирования, как обработка материалов и цифровая обработка изображений.
Основные характеристики АОД:
Модель | Спектральный диапазон, нм | Рабочая частота, МГц | Угол сканирования, мрад | Рабочая апертура, мм |
AODF 4170-UV | 343; 355 | 170 | 4,95 | 7,0 |
AODF 4090-6 | 1064 | 72,5-107,5 | 56,0 | 2,0 |
AODF 4075-IR | 1064-1100 | 59-91 | 8,1 | 2,5 |
AODF 4090-7 | 440-530 | 60-115 | 44,0 | 8,5 |
AODF 2690-UV | 266-355 | 432 | 4,9 | 7 х 60 |
AODF 4170 | 355 | 130-210 | 4,9 | 7 х 20 |
AODF 4100-UV | 364 | 75-125 | 29,5 | 4 х 14 |
AODF 4200-UV | 266 | 135-265 | 5,5 | 1 х 69 |
AODF 4200-VI | 405-488 | 150-250 | 58,0 | 4,8 |
AODF 4085 | 750-1064 | 55-110 | 42,5 | 15,0 |
AODF 4210-UV | 266 | 210 | 4,6 | 5,0 |
AODF 4055-4 | 780-980 | 35-70 | 44,3 | 3,5 х 14 |
AODF 4210-IR | 830 | 140-280 | 27,6 | 2-6 |
Наука в деталях
Компания Shafan предлагает широкий спектр лазерной электроники, использующейся для решений поставленных задач. В данной ...
Рост объёмов передаваемых данных в телекоммуникационных сетях, центрах обработки данных и системах искусственного интелл...
Фотоакустическая микроскопия (ФAM) позволяет получать высококонтрастные изображения биологических тканей. Однако ее прак...
Модуль спектроскопии насыщенного поглощения представляет собой компактную оптическую систему, предназначенную для получе...
Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия — один из наиболее эффективных неразрушающих методов трехмерной визуализац...
info@inscience.ru
+7 (495) 199-0-199
Написать в чат
Оставить заявку
Написать в чат