Гальванометрические сканаторы
Системы контроля
Сканирующие компоненты
Sino-Galvo - это высокотехнологичное предприятие, расположенное в Чжэньцзяне. Компания специализируется на разработках гальванометрических сканирующих систем, ведет разработки в научно-исследовательской и опытно-конструкторской деятельности. Помимо стандартного списка продукции, компания Sino-Galvo также может производить сканирующие системы по персональному пожеланию заказчика. Площадь производственной базы занимает 10000 квадратных метров, персонал предприятия составляет около двухсот человек. Продукция Sino-Galvo широко применяется в лазерной маркировке, медицине, науке, 3D-печати, лазерной очистке, сварке, прецизионной резке, в военных и многих других областях.
Научно-исследовательский центр Sino-Galvo расположен на высокотехнологической промышленной базе Джонгуанкуна в Пекине. С 2001 года в компании работают ведущие специалисты в области электроники, оптики, точной механики и программного обеспечения. Благодаря методическим рекомендациям, разработанным национальными научно-исследовательскими институтами (например, министерство авиации Китая) компания Sino-Galvo представила и запатентовала собственную серию гальванометрических сканеров и систем управления программным обеспечением.
Продукты компании уже получили сертификаты CE, RoHS, FCC и REACH, также был произведен контроль качества в соответствии со стандартом ISO900. Предприятие имеет 18 патентов на изобретения, а также многочисленные права на интеллектуальную собственность. Sino-Galvo экспортирует свою продукцию во многие страны и регионы, включая США, Германию, Россию, Италию, Турцию, Польшу, Бразилию, Южную Корею, Индию, Тайвань.
Наука в деталях
Исследователи из KAIST и компании PASQAL представили экспериментальную платформу на основе нейтральных атомов для решени...
Разработка и экспериментальное исследование перестраиваемого полупроводникового лазера, работающего в непрерывном режиме...
Мир клеток скрыт от человеческого глаза — даже мощные оптические микроскопы не способны показать детали меньше 200 нм. Ч...
Недавно исследовательская группа профессора Ху Вэя из Нанкинского университета добилась значительного прогресса в област...
В представленной работе авторами была продемонстрирована компактная система голографической проекции, основанная на инте...
info@inscience.ru
+7 (495) 199-0-199
Написать в чат
Оставить заявку
Написать в чат