В процессе изготовления оптической плиты было выполнено ее анодирование и чернение для минимизации воздействия внешних факторов за счет уменьшения поверхностных отражений. Сотовая структура из сквозных резьбовых отверстий типа M6, расположенных с шагом 25 мм, позволяет осуществлять монтаж оптических компонентов с любой стороны. Плита длиной более 300 мм имеет в общей сложности пять монтажных отверстий M6, из которых четыре расположены по углам, в 25 мм от края, а другое отверстие – в центре. В случае если на центральную часть сотовой оптической плиты оказывается большое воздействие, добавление монтажного основания в центральное отверстие обеспечит жесткость поверхности и уменьшит деформации. Оптическая плита может быть оснащена резиновой виброизоляцией или другим монтажным основанием, включая оптические платформы, другие плиты, арматуру или кронштейны, через потайные отверстия M6.
Партийный номер |
Размеры оптической плиты |
150 х 100 х 13 мм | |
150 × 150 × 13 мм | |
300 × 150 × 13 мм | |
200 × 200 × 13 мм | |
300 × 300 × 13 мм | |
450 × 300 × 13 мм | |
600 × 300 × 13 мм | |
600 × 450 × 13 мм | |
600 × 600 × 13 мм | |
900 × 600 × 13 мм |
Материал |
Алюминиевый сплав 6061-T6 |
Сквозные резьбовые отверстия |
M6 |
Толщина |
13 мм |
Поверхностная обработка |
Черное анодирование |
Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции Omtools на территории РФ
В работе предлагается технология производства источников неразличимых фотонов в телекоммуникационном С-диапазоне на основе эпитаксиальных полупроводниковых квантовых точек. Новая методика позволяет детерминировано интегрировать квантовые излучатели в микрорезонаторы из кольцевых брэгговских решёток.
В работе реализован протокол BB84 с твердотельным источником одиночных фотонов на основе атомарно тонких слоев WSe2, выделяющийся простотой изготовления и настройки свойств. Система конкурентоспособна в сравнении с передовыми решениями, а с внедрением улучшений в виде микрорезонаторов может превзойти их.
В статье описывается метод широкопольной квантовой микроскопии с пространственным разрешением 1,4 мкм, основанный на схеме с симметричными плечами холостых и сигнальных фотонов. Преимущества метода: высокие скорость, отношение сигнал/шум и устойчивость к рассеянному свету в сравнении с аналогичными методами квантовой визуализации.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3