Avantes представляет спектрометры серии CompactLine с КМОП детекторами, обладающими разрешением 2048 пикселей, передовой электроникой и коммуникациями. Это устройство очень компактно и имеет как отличную температурную стабильность, так и стабильность регистрации длин волн. Спектрометр можно легко взять с собой куда угодно. Он подходит для портативных приложений.
Диапазон длин волн | 200 - 1100 нм | |
Рассеяние света | 0.2 - 1 % | |
Чувствительность | 337 500 | |
Время интеграции | 30 мкс - 40 с | |
Сигнал/шум | 330:1 | |
Детектор | HAM S11639, линейная матрица КМОП, 2048 пикселей (14×200 мкм) | |
АЦП | 16 бит, 6 МГц | |
Интерфейс | USB 2.0 (480 Мбит/с), пигтейл (40 см) USB-A | |
Скорость дискретизации | 3 мс/скан | |
Скорость передачи | 4.6 мс/скан | |
Ввод/вывод |
5 реверсивных входов/выходов, |
|
Источник питания | USB, 500 мА | |
Габаритные размеры, вес | 95×68×20 мм, 175 г | |
Диапазон температур | 0 - 55° С |
Используемый диапазон (нм) | Спектральный диапазон (нм) | Лин/мм | Блеск (нм) | Партномер |
200-1100 | 891 | 300 | 300 | MN0300-0.30 |
200-850 | 515 | 600 | 300 | MN0600-0.30 |
200-750 | 247-218 | 1200 | 250 | MN1200-0.25 |
200-650 | 163-143 | 1800 | УФ | MN1800-0.25 |
200-580 | 113-69 | 2400 | УФ | MN2400-0.25 |
200-400 | 69-45 | 3600 | УФ | MN3600-0.25 |
250-580 | 515 | 600 | 400 | MN0600-0.40 |
300-1100 | 792 | 300 | 500 | MN0300-0.50 |
360-1000 | 495 | 600 | 500 | MN0600-0.50 |
300-800 | 247-218 | 1200 | 500 | MN1200-0.50 |
350-750 | 142-89 | 1800 | 500 | MN1800-0.50 |
350-640 | 74-49 | 2400 | Видимый | MN2400-0.50 |
500-1050 | 495 | 600 | 750 | MN0600-0.75 |
500-1050 | 218-148 | 1200 | 750 | MN1200-0.75 |
600-1160 | 346-297 | 830 | 800 | MN0830-0.80 |
600-1100 | 495 | 300 | 1000 | MN0300-1.00 |
600-1100 | 495 | 600 | 1000 | MN0600-1.00 |
Размер щели (мкм) | 10 | 25 | 50 | 100 | 200 | 500 |
Решетка 300 лин/мм | 1.0 | 1.4 | 2.5 | 4.8 | 9.2 | 21.3 |
Решетка 600 лин/мм | 0.40-0.53 | 0.7 | 1.2 | 2.4 | 4.6 | 10.8 |
Решетка 830 лин/мм | 0.32 | 0.48 | 0.93 | 1.7 | 3.4 | 8.5 |
Решетка 1200 лин/мм | 0.20-0.28 | 0.27-0.38 | 0.52-0.66 | 1.1 | 2.3 | 5.4 |
Решетка 1800 лин/мм | 0.10-0.18 | 0.20-0.29 | 0.34-0.42 | 0.8 | 1.6 | 3.6 |
Решетка 2400 лин/мм | 0.09-0.13 | 0.09-0.13 | 0.26-0.34 | 0.44-0.64 | 1.1 | 2.7 |
Решетка 3600 лин/мм | 0.06-0.08 | 0.10 | 0.19 | 0.4 | 0.8 | 1.8 |
В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3