В серию спектрометров AvaSpec-NIR256/512-2.5-HSC-EVO включены как 256-, так и 512-пиксельные детекторы на основе InGaAs. Эти спектрометры подходят для изучения зерновых культур, кукурузы, пшеницы, сои, полимеров, а также для медицинского исследования, мониторинга процессов в организме и других анализов в спектральном диапазоне от 1000 нм до 2500 нм. 256-пиксельные детекторы обеспечивают высокую точность. Для задач, в которых важна разрешающая способность, или требуется большее количество данных для моделирования, лучшим выбором будет 512-пиксельный детектор.
Название | AvaSpec-NIR256-2.5-HSC-EVO | AvaSpec-NIR512-2.5-HSC-EVO | ||
Диапазон длин волн | 1000-2500 нм | |||
Дисперсия пикселя (с решеткой NIR075-1,7) | 6.2 нм | 3.1 нм | ||
Рассеянный свет | <1% | |||
Режим работы | Высокая чувствительность | Низкий шум | Высокая чувствительность | Низкий шум |
Чувствительность | 990 000 | 55 000 | 480 000 | 26 600 |
Время интеграции | 10 мкс - 5 мс | 10 мкс - 10 сек | 10 мкс - 5 мс | 10 мкс - 10 сек |
Сигнал/шум | 1800:1 | 4000:1 | 1900:1 | 3700:1 |
Детектор | InGaAs с двухступенчатым TE-охлаждением, 256 пикселей, 50 мкм x 250 мкм | InGaAs с двухступенчатым TE-охлаждением, 512 пикселей, 25 мкм x 250 мкм | ||
АЦП | 16 бит, 500 кГц | |||
Интерфейс | USB 3.0, 5 Гбит/с, Gigabit Ethernet, 1 Гбит/с | |||
Скорость дискретизации | 0.54 мс/скан | |||
Скорость передачи | 1.11 мс/скан | |||
Ввод/вывод | Разъем HD-26, 2 аналоговых входа, 2 аналоговых выхода, 3 цифровых входа, 12 цифровых выходов, триггер, синхронизация |
|||
Источник питания | 12 В, 40 Вт | |||
Габаритные размеры, вес | 185×145×185 мм, 3.5 кг | |||
Рабочая температура | 0-40°С | |||
Температура охлаждения | 45°С |
Используемый диапазон (нм) | Спектральный диапазон (нм) | Лин/мм | Блеск (нм) | Партномер |
1000-2500 | 1500 | 75 | 1700 | NIR075-1.7 |
1350-2500 | 1173-1150 | 100 | 2500 | NIR100-2.5 |
1000-2500 | 800-660 | 150 | 2000 | NIR150-2.0 |
1000-2500 | 815-700 | 150 | 2600 | NIR150-2.6 |
1000-2500 | 574-530 | 200 | 1500 | NIR200-1,5 |
Размер щели (мкм) | 25 | 50 | 100 | 200 | 500 |
---|---|---|---|---|---|
Решетка 75 лин/мм | 8.9 | 12.9 | 16.0 | 33.9 | 84.5 |
Решетка 100 лин/мм | 7.2 | 9.5 | 12.0 | 20.0 | 50.0 |
Решетка 150 лин/мм | 4.0 | 5.7 | 7.0 | 12.8 | 32.0 |
Решетка 200 лин/мм | 2.6 | 4.4 | 5.2 | 9.3 | 23.3 |
В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3