Спектрометр AvaSpec-ULS2048x64TEC-EVO

AvaSpec-ULS2048x64TEC-EVO

Детектор спектрометра AvaSpec-ULS2048x64TEC-EVO обладает хорошей чувствительностью в УФ и ИК диапазонах. Высота детектора в 64 пикселя позволяет улавливать много фотонов, а охлаждение обеспечивает длительное время интеграции до 120 секунд с низким уровнем шума. Прибор оснащен охлаждающим устройством Пельтье, встроенным в оптическую скамью, которое позволяет снизить температуру ПЗС матрицы до -30°C по сравнению с окружающей средой. Охлаждение детектора снижает темновой шум в 2-3 раза. Все упомянутые выше функции делают этот прибор идеально подходящим для измерений в условиях низкой освещенности, таких как флуоресценция или измерения комбинационного рассеяния света при слабом освещении. Сменная щель гарантирует оптимальную гибкость, что делает инструмент пригодным для различных применений.

Оптическая схема: симметричная Черни-Тернера, фокусное расстояние 75 мм
Спектральный диапазон от 200 нм до 1160 нм
Широкий спектр применений, например, LIBS, измерение тонких пленок
Низкое рассеяние света до 1%
Высокая скорость передачи данных

Техническая спецификация

Технические данные
Параметры решетки
Разрешение

Диапазон длин волн	200 - 1160 нм
Разрешение	0.09 - 20 нм, зависит от конфигурации
Рассеяние света	менее 1 %
Чувствительность	300 000
Время интеграции	9.7 мс - 10 мин
Сигнал/шум	550:1
Детектор	ПЗС матрица с охлаждением 2048×64 пикселей
Охлаждение матрицы	ΔT = -30°C в зависимости от температуры окружающей среды
Внутренний блок питания с одноступенчатым охлаждением Пельтье @ ΔT = -35 °	5 В постоянного тока, 3.0 А
АЦП	16 бит, 500 кГц
Интерфейс	USB 3.0 (5 Гбит/с), Gigabit Ethernet (1 Гбит/с)
Скорость дискретизации	9.7 мс/скан
Скорость передачи	9.7 мс/скан
Ввод/вывод	Разъем HD-26, 2 аналоговых входа, 2 аналоговых выхода, 13 двунаправленных цифровых сигналов, триггер, синхронизация, стробоскоп, лазер
Источник питания	12 В постоянного тока, 1.5 А
Габаритные размеры, вес	185×145×184 мм, 3500 г

Используемый диапазон (нм)	Спектральный диапазон (нм)	Лин/мм	Блеск (нм)	Партномер
200-1160	960	300	300	UA
200-1100	900	300	300/1000	UNA-DB
200-850	520	600	300	UB
200-750	250-220	1200	250	UC
200-650	165-145	1800	250	UD
200-580	115-70	2400	250	UE
200-400	70-45	3600	250	UF
250-850	520	t600	400	BB
300-1160	860	300	500	VA
360-1000	500	600	500	VB
300-800	250-200	1200	500	BK
350-750	145-90	1800	500	VD
350-640	75-50	2400	500	VE
500-1050	500	600	750	NB
500-1050	220-150	1200	750	NC
600-1160	350-300	830	800	SI
600-1160	560	300	1000	IA
600-1160	500	600	1000	IB

Размер щели (мкм)	10	25	50	100	200	500
Решетка 300 лин/мм	1.4	1.5	2.5	4.8	9.2	21.3
Решетка 600 лин/мм	0.70-0.80	0.75-0.85	1.2	2.4	4.6	10.8
Решетка 830 лин/мм	0.42-0.48	0.50-0.58	0.93	1.7	3.4	8.5
Решетка 1200 лин/мм	0.25-0.31	0.37-0.43	0.52-0.66	1.1	2.3	5.4
Решетка 1800 лин/мм	0.17-0.21	0.26-0.32	0.34-0.42	0.8	1.6	3.6
Решетка 2400 лин/мм	0.12-0.18	0.18-0.24	0.26-0.34	0.44-0.64	1.1	2.7
Решетка 3600 лин/мм	0.08-0.12	0.11-0.15	0.19	0.4	0.8	1.8

Новые статьи

Сравнение фемтосекундных лазеров различных производителей

В обзоре сравниваются модели фемтосекундных лазеров от уже зарекомендовавших себя производителей и их потенциальные аналоги: Coherent, Ekspla, Spectra-Physics, Light Conversion, Novanta photonics, Авеста, Inngu laser, CNI, Newlight Source, Keyun

Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света.

Сравнение наносекундных лазеров различных производителей

В обзоре сравниваются модели наносекундных лазеров от уже зарекомендовавших себя производителей и их потенциальные аналоги: Ekspla, Litron, Quantel, Bright Solutions, Hubner photonics, CNI, Солар ЛС, Inngu laser, Grace laser, Beamtech.

Точное оптическое детектирование контуров с помощью витой отражающей q-пластины

В работе предлагается оптический детектор контуров, основанный на отражающей витой жидкокристаллической q-пластине. Устройство состоит из зеркала и жидкокристаллического слоя толщиной 1,46 мкм с углом скручивания 69,2°.