Внеосевой формирователь луча

Создает однородное поле размером ≥ 180 x 180 мм² с цилиндрическим профилем по обеим осям под заданным углом освещения
Оптическая эффективность до 90 %, неоднородность по всей площади составляет < 7,5 %
Подходит для многих различных лазерных источников (например, лазерный диод, твердотельный лазер и эксимерный)
Универсальность в различных областях применения, например, в очистке материалов, машинном зрении и промышленном бесконтактном контроле

Техническая спецификация

Внеосевой формирователь луча

Модель	Серия №	Спектр просветляющего покрытия (нм)	Рабочее расстояние (мм)	Угол падения (°)
Внеосевой формирователь луча, TopHat of 180 x 180 mm²	IOS000292 *	Без покрытия	680 ± 25	15 ± 3

Новые статьи

Методы и средства люминесцентной микроскопии

Современные тенденции развития люминесцентной микроскопии направлены, в первую очередь, на повышение разрешающей способности систем формирования изображения. Здесь к лючевую роль играют методы конфокальной и мультифотонной микроскопии.

Сравнение фемтосекундных лазеров различных производителей

В обзоре сравниваются модели фемтосекундных лазеров от уже зарекомендовавших себя производителей и их потенциальные аналоги: Coherent, Ekspla, Spectra-Physics, Light Conversion, Novanta photonics, Авеста, Inngu laser, CNI, Newlight Source, Keyun

Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света.

Сравнение наносекундных лазеров различных производителей

В обзоре сравниваются модели наносекундных лазеров от уже зарекомендовавших себя производителей и их потенциальные аналоги: Ekspla, Litron, Quantel, Bright Solutions, Hubner photonics, CNI, Солар ЛС, Inngu laser, Grace laser, Beamtech.