Главная / Производители / APE / Автокорреляторы АРЕ

Автокоррелляторы АРЕ

Диапазон длин волн от 200 до 12 мкм
Измерение длительности импульсов от 10 фс до 500 пс
Удаленное управление по TCP/IP
Калибровка по эталонам NIST

Функции автокорреляторов расширились благодаря дополнительному кристаллическому модулю и обновленному ПО. Благодаря сочетанию различных кристаллов, приборы оптимизированы для длин волн в широком диапазоне от 420 нм до 2200 нм. Распознаваемая ширина (длительность) импульсов от 20 пс до 6 фс, спектральное разрешение при этом может достигать 0.1 нм. Каждый кристалл поставляется со списком технических характеристик и инструкцией для калибровки. Версия FROG совместима с лазерами с частотой до 10 кГц. Приборы серии SPIDER предназначены специально для регистрации фазово-разрешенных ультракоротких импульсов длительностью до 5 фс. LX SPIDER позволяет регистрировать и анализировать импульсы длительностью 16 - 200 фс, SPIDER IR оптимизирован для работы с импульсами 30 - 500 фс и центральной длиной волны 1 мкм. Версия PulseCheck SM Type 2 с широким динамическим диапазоном предназначена для высококонтрастной характеристики импульсов.


Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции APE на территории РФ

Новые статьи
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

Точное оптическое детектирование контуров с помощью витой отражающей q-пластины

В работе предлагается оптический детектор контуров, основанный на отражающей витой жидкокристаллической q-пластине. Устройство состоит из зеркала и жидкокристаллического слоя толщиной 1,46 мкм с углом скручивания 69,2°.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3