Andor

Камеры для спектроскопии
CCD, EMCCD, InGaAs, ICCD и sCMOS камеры для спектроскопической диагностики в материаловедении, химии, фундаментальной физике и оптике.
Модульные спектрографы
Простота использования, высокое разрешение и пропускная способность, спектральный диапазон от УФ до ИК
Конфокальная микроскопия
Получение изображения с непревзойденным сочетанием скорости, чувствительности, контрастности и пространственного разрешения за границей дифракционного предела.

oi-andor-logo.4994e66c0b2aac214dfa01f29bf1040f

Andor является мировым лидером в разработке и производстве высокопроизводительных научных цифровых камер, систем микроскопии и спектрографов для академических и промышленных приложений. Благодаря постоянному контакту с клиентами и сплоченной командной работе Andor продолжает создавать новаторские продукты, улучшая мир, в котором мы живем.

Научные камеры

Ассортимент Andor предлагает большой выбор таких характеристик как чувствительность, временное разрешение, а также формат детекторов, чтобы наилучшим образом соответствовать конкретным условиям эксперимента. Также на выбор есть камеры со спектральным диапазоном от УФ до дальнего ИК диапазона и временным разрешением от наносекунды до нескольких часов.

Подробнее
Спектрографы

Спектрографы Andor основаны на оптических схемах Черни-Тернера или Эшелле. В наличии есть как уже сконфигурированные спектрографы, так и модульные платформы для индивидуального приложения.

 

Подробнее
Системы микроскопии

Микроскопы Andor содержат в себе множество инновационных оптических решений, которые создают идеальное сочетание однородности света, пропускной способности, разрешения и мощности в системе конфокальной микроскопии.

Online заявка
Новые статьи
Дифракционный метод формирования лазерного пучка в виде пятна, окруженного кольцом, с плавно регулируемым коэффициентом мощности

В статье представлена новая и простая концепция, основанная на дифракции, для достижения профиля пучка в форме кольца и центрального пятна с регулируемым соотношением энергии кольца и пятна для стандартных волоконных лазеров

Удаление артефактов рассеяния с формированием шаблона возбуждения обеспечивает быструю широкополосную визуализацию с помощью рассеивающих сред

Методы широкополосной визуализации образцов тканей успешно применяются для анализа очищенных тонких тканей, однако, рассеяние фотонов в глубоких мутных образцах существенно ухудшает качество изображения, в статье описан новый метод для решения этой проблемы

Высокодисперсные зеркала

Высокодисперсные зеркала для ультракоротких импульсов критически важны для сжатия импульсов и компенсации дисперсии в приложениях ультракоротких импульсов

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3