Kymera и Shamrock |
Mechelle |
- Модульность - Высокое разрешение - Интеллектуальная фокусировка |
- Запатентованные технологии - Диапазон от УФ до ИК - Большая полоса пропускания |
Спектрограф | Kymera 193i | Kymera 328i |
Диафрагма
|
F/3.6 | F/4.1 |
Фокусное расстояние | 193 мм | 328 мм |
Решетка |
Сменная двойная осевая револьверная головка
|
Сменная 4х осевая револьверная головка |
Разрешающая способность | до 0,03 нм | до 0,07 нм |
Погрешность | 0.04 нм | 0.04 нм |
Повторяемость | 10 пм | 10 пм |
Узнать больше | Kymera 193i | Kymera 328i |
Спектрограф | Shamrock 163 | Shamrock 500i | Shamrock 750 |
Диафрагма
|
F/3.6 | F/6.5 | F/9.7 |
Фокусное расстояние | 163 мм | 500 мм | 750 мм |
Решетка |
Одиночная сменная
|
Сменная тройная револьверная головка | Сменная тройная револьверная головка |
Разрешающая способность | до 0,12 нм | до 0,03 нм | до 0,02 нм |
Погрешность | - | 0.04 нм | 0,03 нм |
Повторяемость | - | 10 пм | 10 пм |
Узнать больше | Shamrock 163 | Shamrock 500i | Shamrock 750 |
Спектрограф | Mechelle 5000 |
Диафрагма
|
F/7 |
Фокусное расстояние | 195 мм |
Диапазон длин волн |
200-975 нм
|
Спектральное разрешение (λ/Δλ) | 6000 |
Погрешность | до 0,05 нм |
Узнать больше | Mechelle 5000 |
В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3