Andor производит простые в использовании универсальные спектрографы с большим диапазоном доступных характеристик. Интеллектуальная адаптивная фокусировка, высокое спектральное разрешение и скорость обработки данных позволяет получать высококачественные данные с непревзойденной повторяемостью.
 |
 |
Kymera и Shamrock |
Mechelle |
| - Модульность - Высокое разрешение - Интеллектуальная фокусировка |
- Запатентованные технологии - Диапазон от УФ до ИК - Большая полоса пропускания |
| Спектрограф | Kymera 193i | Kymera 328i |
Диафрагма
|
F/3.6 | F/4.1 |
| Фокусное расстояние | 193 мм | 328 мм |
| Решетка |
Сменная двойная осевая револьверная головка
|
Сменная 4х осевая револьверная головка |
| Разрешающая способность | до 0,03 нм | до 0,07 нм |
| Погрешность | 0.04 нм | 0.04 нм |
| Повторяемость | 10 пм | 10 пм |
| Узнать больше | Kymera 193i | Kymera 328i |
| Спектрограф | Shamrock 163 | Shamrock 500i | Shamrock 750 |
Диафрагма
|
F/3.6 | F/6.5 | F/9.7 |
| Фокусное расстояние | 163 мм | 500 мм | 750 мм |
| Решетка |
Одиночная сменная
|
Сменная тройная револьверная головка | Сменная тройная револьверная головка |
| Разрешающая способность | до 0,12 нм | до 0,03 нм | до 0,02 нм |
| Погрешность | - | 0.04 нм | 0,03 нм |
| Повторяемость | - | 10 пм | 10 пм |
| Узнать больше | Shamrock 163 | Shamrock 500i | Shamrock 750 |
| Спектрограф | Mechelle 5000 |
Диафрагма
|
F/7 |
| Фокусное расстояние | 195 мм |
| Диапазон длин волн |
200-975 нм
|
| Спектральное разрешение (λ/Δλ) | 6000 |
| Погрешность | до 0,05 нм |
| Узнать больше | Mechelle 5000 |
В статье описан метод генерации суперконтинуума, расширенного в видимый диапазон. За счет четырехволнового смешения накачка 1064 нм создает антистоксовы и стоксовы компоненты на 831 нм и 1478 нм. Фазовый синхронизм обеспечивается благодаря микроструктурированному мультимодальному волокну особой конструкции.
В статье описывается усовершенствование метода лазерно-водоструйной обработки: добавление коаксиально-кольцевой аргоновой струи, мгновенно очищающей отверстие от образующегося осадка. Таким образом сохраняется высокий объем абляции при создании глубоких отверстий в сложно обрабатываемых материалах.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3
