Главная / Производители / Castech / Изоляторы с выводом в свободное пространство

Изоляторы с выводом в свободное пространство Castech

Высокая изоляция (33 дБ для одноступенчатой серии и 50 дБ для двухступенчатой серии)
Низкие вносимые потери
Отличная устойчивость к воздействиям окружающей среды

Изоляторы с выводом в свободное пространство можно разделить на две категории в зависимости от режима вывода: с нерасширенным лучом и расширенным лучом.

Изолятор нерасширенного луча состоит из двулучепреломляющего кристалла, вращателя Фарадея, полуволновой пластинки или поляризатора и коллиматора. Он обычно используется в волоконных лазерных системах для эффективного поддержания стабильности оптической системы.

Изолятор расширенного луча состоит из коллиматора, двулучепреломляющего кристалла, вращателя Фарадея, полуволновой пластинки или поляризатора и расширителя луча. Выходной пучок характеризуется хорошим качеством луча и малым углом расхождения.

Применение:

  • Изготовление волоконных лазеров
  • Волоконно-оптический датчик
  • Лазерный датчик

Примечание:

Компания CASTECH использует высококачественные кристаллы и оптические компоненты для изготовления изоляторов с отличными характеристиками. Мощность варьируется от 300 мВт до 200 Вт. Изделия отличаются высокой изоляцией (33 дБ для одноступенчатой серии и 50 дБ для двухступенчатой серии), низкими вносимыми потерями, отличной устойчивостью к воздействиям окружающей среды.

Online заявка

Изоляторы с нерасширенным лучом: HPISO-t-p-f-λ-e-b-s-d-h

Тип (t)

Мощность (p)

Тип волокна (f)

Длина волны (λ)

Диаметр проводника (e)

Диаметр луча (b)

Ступени(s)

Форма пятна (d)

Корпус (h)

FF

(Нерасширенный луч)

1 Вт

5 Вт

30 Вт

50 Вт

70 Вт

100 Вт

200 Вт

500 Вт

...

1

(10/125SCF)

2

(20/130DCF)

3

(12/250SCF)

4

(20/250DCF)

5

(30/250DCF)

6

(PM 980)

980 нм

1030 нм

1064 нм

1080 нм

2000 нм

..

C

(6 мм Армированный кабель)

E

(8 мм Армированный кабель)

H

(10 мм Армированный кабель)

L

(900 мкм Свободно лежащий кабель)

N

(Без покрытия)

0.3 мм

0.5 мм

0.7 мм

1.0 мм

2.0 мм

S

(Одноступенчатый)

D

(Двухступенчатый)

G

(Гаусса)

F

(П-образное)

A08

A09

...

 

Мощность

Порог повреждения (10 нс, 10 Гц)

Пропускание

Пиковая изоляция

50 Вт

10 Дж/см² @ 1064 нм

93 %*, 90 %**

>33 дБ*, >50 дБ**

100 Вт

10 Дж/см² @ 1064 нм

93 %*, 90 %**

>33 дБ*, >50 дБ**

 500 Вт*

10 Дж/см² @ 1064 нм

93 %

>33 дБ

Диапазон рабочих температур: 10℃ – 30℃.

* Только для одноступенчатого изолятора

** Только для двухступенчатого изолятора

размеры корпуса изоляторы свободного пространства 1

Изоляторы с расширенным лучом: HPISO-t-p-f-λ-e-b-s-d-h

Тип (t)

Мощность (p)

Тип волокна (f)

Длина волны (λ)

Диаметр проводника (e)

Диаметр луча (b)

Ступени(s)

Форма пятна (d)

Корпус (h)

EB (Расширенный луч)

WLP* (C лазерной указкой)

1 Вт

5 Вт

30 Вт

50 Вт

70 Вт

100 Вт

200 Вт

...

1

(10/125SCF)

2

(20/130DCF)

3

(12/250SCF)

4

(20/250DCF)

5

(30/250DCF)

6

(PM 980)

980 нм

1030 нм

1064 нм

1080 нм

2000 нм

..

C

(6 мм Армированный кабель)

E

(8 мм Армированный кабель)

H

(10 мм Армированный кабель)

L

(900 мкм Свободно лежащий кабель)

N

(Без покрытия)

5 мм

6 мм

7 мм

8 мм

9 мм

10 мм

11 мм

S

(Одноступенчатый)

D

(Двухступенчатый)

G

(Гаусса)

F

(П-образное)

A02

A05

A28

A36

A40

...

* Тип индикатора красного света применим только к одноступенчатым изоляторам.

Мощность

Порог повреждения (10 нс, 10 Гц)

Пропускание

Степень износа M2

Пиковая изоляция

50 Вт

10 Дж/см² @ 1064 нм

92 %*, 90 %**

≤10%

>33 дБ*, >50 дБ**

100 Вт

10 Дж/см² @ 1064 нм

92 %*, 90 %**

≤10%

>33 дБ*, >50 дБ**

 500 Вт*

10 Дж/см² @ 1064 нм

92 %

≤10%

>33 дБ

Диапазон рабочих температур: 10℃ – 30℃.

* Только для одноступенчатого изолятора

** Только для двухступенчатого изолятора

Размеры корпуса изолятора с расширенным лучом

Типичная производительность изолятора

изоляторы свободного пространства схема работы

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции Castech на территории РФ

Новые статьи
Методы и средства люминесцентной микроскопии

Современные тенденции развития люминесцентной микроскопии направлены, в первую очередь, на повышение разрешающей способности систем формирования изображения. Здесь к лючевую роль играют методы конфокальной и мультифотонной микроскопии.

      
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3