Косинусные корректоры используются для сбора света под углом 180°. Это устраняет проблемы связанные с выбором положения установки для сбора света, присущей другим устройствам, таким как оптоволокно без оболочки, коллимирующие линзы или интегрирующие сферы.
Avantes предлагает четыре различные модели косинусных корректоров: CC-UV/VIS и CC-VIS/NIR имеют активную область 3/9 мм и размеры 18 мм х 6.5 мм. CC-UV/VIS/NIR-8MM работает как CC-VIS/NIR, но имеет активную область 8,0 мм и размеры 29 мм х 12 мм. Специализированный CC-UV/VIS/NIR-5.0 имеет активную область 20 мм и используется для измерения солнечного света, требующего углового поля зрения 5°.
Название |
CC-UV/VIS |
CC-VIS/NIR |
CC-UV/VIS/NIR8MM |
CC-UV/VIS/NIR-5.0 |
Активная область |
3.9 мм |
8 мм |
20 мм |
|
Рассеивающий материал |
Тефлон (200-800 нм), толщиной 1 мм |
Кварц Radin (200-2500 нм), толщиной 1.5 мм | ||
Размеры |
Диаметр 6.5 мм, длина 18 мм |
Диаметр 12 мм, длина 29 мм |
Диаметр 38 мм, длина 373 мм |
|
Геометрия отбора проб |
Принимает свет при угле обзора 180° |
Принимает свет при угле обзора 5° |
||
Коннектор |
SMA 905 | |||
Температура |
-30°C - 100°C |
CC-UV/VIS |
Косинусный корректор для УФ/видимого диапазонов, коннектор SMA |
CC-VIS/NIR |
Косинусный корректор для УФ/видимого/ближнего ИК, коннектор SMA |
CC-UV/VIS/NIR-8MM |
Косинусный корректор для УФ/видимого/ближнего ИК, площадь 8 мм, коннектор SMA |
CC-UV/VIS/NIR-5.0 |
Косинусный корректор для УФ/видимого/ближнего ИК, угол обзора 5°, коннектор SMA |
В работе предлагается технология производства источников неразличимых фотонов в телекоммуникационном С-диапазоне на основе эпитаксиальных полупроводниковых квантовых точек. Новая методика позволяет детерминировано интегрировать квантовые излучатели в микрорезонаторы из кольцевых брэгговских решёток.
В работе реализован протокол BB84 с твердотельным источником одиночных фотонов на основе атомарно тонких слоев WSe2, выделяющийся простотой изготовления и настройки свойств. Система конкурентоспособна в сравнении с передовыми решениями, а с внедрением улучшений в виде микрорезонаторов может превзойти их.
В статье описывается метод широкопольной квантовой микроскопии с пространственным разрешением 1,4 мкм, основанный на схеме с симметричными плечами холостых и сигнальных фотонов. Преимущества метода: высокие скорость, отношение сигнал/шум и устойчивость к рассеянному свету в сравнении с аналогичными методами квантовой визуализации.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3