Главная / Библиотека / Источники света Avantes

Источники света Avantes

Теги avantes
Источники света Avantes

В статье обозреваются и сравниваются серии источников излучения Avantes. Для удобства читателя в конце статьи приводится сводная таблица.

Галогенные источники света Avantes

Галогенные источники AvaLight характеризуются стабильной выходной мощностью и длительным сроком службы. Высокая стабильность энергии позволяет использовать их в качестве калибровочного источника света для облучения. Главное преимущество заключается в том, что спектральный выходной пучок представляет собой плавную кривую излучения черного тела с максимальным динамическим диапазоном.

Дейтериевые источники света Avantes

Дейтериевые источники света Avantes также стабильны и высокопроизводительны, используются в приложениях измерения поглощения или отражения ультрафиолетового излучения. Стандартный AvaLight-DH-S смешивает галогенный свет с дейтериевым светом, таким образом на выходе создается широкий спектральный диапазон. Выходной спектр дейтериевых источников света имеет несколько пиков, причем заметный пик приходится на 656 нм. Источник AvaLight-DH-S-BAL включает в себя дихроичный светоделитель, установленный для минимизации этих пиков.

Ксеноновые источники света Avantes

Импульсные источники света AvaLight-XE и AvaLight-XE-HP (версия высокой мощности) имеют длительный срок службы и высокую выходную мощность, что оказывается чрезвычайно полезным при измерениях флуоресценции. Отличаются экономической доступностью.

Светодиодные источники света Avantes

Светодиодные источники света, такие как наш AvaLight-LED и его версия повышенной мощности, AvaLight-HPLED, имеют узкий выходной спектр. Типичным применением светодиодных источников AvaLight является флуоресценция. Они также имеют длительный срок службы, короткое время прогрева, отличаются высокой стабильностью.

Для калибровки длины волны Avantes предлагает различные источники, включая аргоновые, ртутно-аргоновые, неоновые, цинковые и кадмиевые.

 

Приложение, рабочая область Диапазон длин волн, нм Тип Излучение Модель
    Видимая/ближняя ИК область 360-2500 Галогенный Непрерывное     AvaLight-HAL-S-Mini
    Дальний УФ диапазон

190-400

Дейтериевый Непрерывное     AvaLight-D-S-DUV
    УФ диапазон 215-400 Дейтериевый Непрерывное     AvaLight-D-S
    УФ/видимый/ближний ИК
    Измерение отражения
215-2500 Дейтериевый/Галогенный Непрерывное     AvaLight-DH-S (-BAL)
    Измерение поглощения 200-2500 Дейтериевый/Галогенный Непрерывное     AvaLight-DHc
    УФ/Видимый диапазон 200-1000 Ксеноновый Непрерывное     AvaLight-XE
    Флуоресценция - Диодный Непрерывное     AvaLight-LED
    Калибрование длины волны 253-1704
Неоновый/аргоновый
 
Непрерывное     AvaLight-CAL-Mini
200-700 Цинковый/кадмиевый Непрерывное     AvaLight-CAL-CAD/Zinc
    Калибрование излучения 3600-2500 Галогенный Непрерывное     AvaLight-HAL-CAL-Mini
200-1100 Дейтериевый/Галогенный Непрерывное     AvaLight-DH-CAL

 

© Avantes

Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции Avantes на территории РФ

Теги avantes
Новые статьи
Методы и средства люминесцентной микроскопии

Современные тенденции развития люминесцентной микроскопии направлены, в первую очередь, на повышение разрешающей способности систем формирования изображения. Здесь к лючевую роль играют методы конфокальной и мультифотонной микроскопии.

      
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3