Виды светоделителей и их свойства
Коэффициент светоотдачи
Светоотражающие свойства полупрозрачного зеркала зависят от покрытия, чаще всего это титан или хром. В дихроичных зеркалах используется принцип интерференции в тонких диэлектрических пленках. Такие зеркала часто применяют в конструкциях оптических резонаторов.
Дихроичное зеркало имеет две поверхности с разными показателями преломления. Очевидно, что в зависимости от стороны, на которую падает волна, коэффициенты светоотдачи будут кардинально отличаться (рис. 1), поэтому в спецификации к изделию указывается основная поверхность.
Рисунок 1. Пучок, падающий на разные поверхности диэлектрического зеркала.
Рисунок 2. Разница в отражении возникает из-за высокого поглощения в покрытии.
Решение – многослойные диэлектрические покрытия, прозрачные для лазерного излучения.
Высокое отражение Малое отражение
Рисунок 3. Относительная зависимость коэффициента отражения от материала покрытия (таблица ниже).
Хромированная пластина PSCH |
Куб светоделительный смешанное покрытие HBCH |
Лазерный светоделитель PSMH |
Хромированный светоделительный куб CSCH Диэлектрический светоделитель кубической формы CSMH |
Отражение и пропускание поляризованного света
Поляризационный светоделитель – это оптический элемент, который частично пропускает, а частично отражает падающее на него линейно поляризованное излучение, например, лазерное. Соотношение интенсивности между прошедшим и отраженным излучением зависит от угла линейной поляризации падающего излучения (рис. 4). К недостаткам поляризационных светоделителей относится фиксированный рабочий угол отражения (90о).
Существуют делители пучка, нечувствительные к поляризации рабочей длины волны. Такие светоделители обеспечивают одинаковое соотношение отражения/пропускания для конкретного диапазона длин волн.
Рисунок 4. Угол линейной поляризации падающего излучения.
© OptoSigma
Компания INSCIENCE помогает своим заказчикам решать любые вопросы и потребности по продукции OptoSigma на территории РФ
В работе предлагается технология производства источников неразличимых фотонов в телекоммуникационном С-диапазоне на основе эпитаксиальных полупроводниковых квантовых точек. Новая методика позволяет детерминировано интегрировать квантовые излучатели в микрорезонаторы из кольцевых брэгговских решёток.
В работе реализован протокол BB84 с твердотельным источником одиночных фотонов на основе атомарно тонких слоев WSe2, выделяющийся простотой изготовления и настройки свойств. Система конкурентоспособна в сравнении с передовыми решениями, а с внедрением улучшений в виде микрорезонаторов может превзойти их.
В статье описывается метод широкопольной квантовой микроскопии с пространственным разрешением 1,4 мкм, основанный на схеме с симметричными плечами холостых и сигнальных фотонов. Преимущества метода: высокие скорость, отношение сигнал/шум и устойчивость к рассеянному свету в сравнении с аналогичными методами квантовой визуализации.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3