Главная / Библиотека / Противодействие атакам с засветкой детекторов одиночных фотонов в системах квантового распределения ключей

Противодействие атакам с засветкой детекторов одиночных фотонов в системах квантового распределения ключей

Теги квантовое распределение ключей детекторы одиночных фотонов
Противодействие атакам с засветкой детекторов одиночных фотонов в системах квантового распределения ключей

Введение

Квантовое распределение ключей (QKD) обеспечивает информационную безопасность современных оптических телекоммуникационных систем. Одна из угроз их безопасности – возможность атаки засветкой ярким светом детекторов одиночных фотонов.

В  статье рассматриваются стратегии защиты от атак подобного рода, основанные на двух принципах: 1 - мониторинг тока смещения лавинного фотодиода (APD) для защиты от атак ослепления непрерывными излучением, 2 - мониторинг амплитуды лавины для защиты от импульсного излучения. Одновременное использование этих двух принципов значительно повышает устойчивость систем QKD к различным атакам с «ослеплением» детекторов ярким светом.

Метод

В системах QKD в качестве детекторов как правило используются APD в режиме лавинообразного пробоя (режиме Гейгера). APD работает в линейном режиме, когда приложенное напряжение обратного смещения ниже напряжения пробоя. В противном случае, он переходит в режим Гейгера. При «ослепляющей» атаке интенсивное лазерное излучение заставляет их переходить в линейный режим. При этом можно активировать детектор мощными оптическими импульсами и скрыть атакующие действия, настроив интенсивность.

На рисунке 1 представлено решение, разработанное для защиты высокоскоростных однофотонных детекторов с синусоидальным стробированием в системах QKD от таких «ослепляющих» атак.

Схема защиты детекторов одиночных фотонов от засветки

Рисунок 1 – Схема защиты детекторов одиночных фотонов от засветки

Атака непрерывным излучением

При ослепляющей атаке непрерывным излучением внутри APD генерируется постоянный фототок. Из-за эффекта деления напряжения последовательным сопротивлением Rbias на катоде APD, обратное напряжение APD остается ниже напряжения лавинного пробоя даже при поступлении стробирующего сигнала, APD работает в линейном режиме.

В качестве решения предлагается отслеживать ток смещения с помощью преобразователя с возможностью определения тока (SGMICRO, модель SGM41285A). Этот преобразователь не только генерирует напряжения смещения APD в диапазоне от 10 до 70 В, но и создает зеркальный рабочий ток смещения APD в соотношении 1:1.

Зеркальный «ток смещения» оцифровывается после I-V преобразования и дискретизируется АЦП (SGMICRO, модель SGM58031, разрешение 16 бит, частота дискретизации 960 Гц). Контроллер FPGA непрерывно считывает значения напряжения и определяет уровень введенного излучения, в том числе высокой интенсивности.

Атака импульсным излучением

При атаке импульсным излучением APD генерирует импульсные фототоки, периодически переводя режим работы диода в линейный. Методы контроля смещения тока APD менее чувствительны к импульсному свету. Чтобы противостоять таким типам атак, используется отслеживание амплитуд лавинных сигналов. Лавинный сигнал на аноде APD проходит через резистор выборки сопротивлением 50 Ом, подвергается первоначальной фильтрации и усилению с коэффициентом 25 дБ, и затем разделяется делителем мощности 1:1.

Первый канал предназначен для однофотонного обнаружения, здесь выделяются сигналы с относительно низкими амплитудами, вызванные однофотонными лавинами. Они подвергаются дальнейшей фильтрации и второму этапу усиления с коэффициентом 20 дБ до уровня нескольких сотен мВ. Затем дискриминатор (Analog Devices, модель ADCMP572, полоса пропускания 8 ГГц) с установленным порогом 50 мВ обрабатывает эти регулярные события обнаружения, и сигнал поступает на FPGA для дополнительной обработки.

Второй канал используется для обнаружения импульса засветки. Амплитуда таких лавин намного больше однофотонных, поэтому этот канал обходит дальнейшее усиление и переходит непосредственно к дискриминации по амплитуде с регулируемым порогом. Засветка классифицируется как аномальный сигнал, который также подается на FPGA. FPGA оценивает, подвергся ли APD импульсному воздействию засветки, и при превышении установленного порога сигнализирует об атаке.

Эксперимент

Компанией QuantumCTek разработан высокоскоростной однофотонный детектор с синусоидальным стробированием, использующий изложенные стратегии.

Основные технические характеристики однофотонного детектора QuantumCTek:

  • частота стробирования 1,25 ГГц;
  • «мертвое» время 100 нс;
  • квантовая эффективность >20 %;
  • теневой счет 1 кГц;
  • вероятность послеимпульса 2 %.

Тестируется эффективность защиты системы от ослепляющих атак, схема эксперимента показана на рисунке 2.

Тестовый стенд для противодействия ослепляющей атаке

Рисунок 2 – Тестовый стенд для противодействия ослепляющей атаке

В первоначальных тестах в условиях CW-атаки определяются средняя оптическая мощность, при которой детектор выходит из режима подсчета одиночных фотонов, и соответствующие пороговые значения тока смещения – уровня срабатывания сигнализации. Результат представлен на рисунке 3. 

Проверка на атаку непрерывным излучением

Рисунок 3 – Проверка на атаку непрерывным излучением

По результатам тестирования порог срабатывания защиты установлен на уровне 50 дБм (обозначен красной пунктирной линией). Такая настройка позволяет обнаружить атаку непрерывным излучением за 50 дБ до того, как детектор оказался под угрозой ослепления.

Для проверки защиты от импульсной засветки использовался лазерный источник с частотой повторения импульсов 625 кГц и длительностями импульсов 50 пс, 1 нс и 10 нс при периоде стробирования 800 пс. Реакция детектора на импульсную атаку показана на рисунке 4.

Реакция детектора на импульсную ослепляющую атаку

Рисунок 4 – Реакция детектора на импульсную ослепляющую атаку, каждая кривая соответствует определенной интенсивности оптического импульса в диапазоне от 1 до 105 (ед. фотонов/импульс)

На рисунке 5 показана реакция на введенную оптическую мощность как системы обнаружения лавинного сигнала яркого света, так и тока смещения. Горизонтальная красная пунктирная линия обозначает порог срабатывания сигнализации по току смещения, а вертикальная пунктирная линия показывает введенную оптическую мощность, при которой обнаруживаются все атакующие импульсы.

Реакция детектора на различную длительность импульса ослепляющей атаки

Рисунок 5 – Реакция детектора на различную длительность импульса ослепляющей атаки: импульс длительностью (a) 1 нс; (b) 10 нс; (c) 50 пс, импульс во время следования импульса стробирования; (d) 50 пс, импульс вне времени следования импульса стробирования

Заключение

Компанией QuantumCTek разработан высокоскоростной стробируемый детектор одиночных фотонов, а также система распределения квантовых ключей с защитой от хакерских атак непрерывной или импульсной засветкой фотоприемника.

Помимо защиты от засветки, эти детекторы также обладают высоким быстродействием и низким уровнем теневых шумов в сравнении с аналогами. Пример стробируемого высокоскоростного детектора одиночных фотонов от QuantumCTek – модель QCD-500A, его характеристики близки к указанным в данной статье.

Источник: Lianjun Jiang et al 2024 J. Semicond. 45 042702
DOI 10.1088/1674-4926/45/4/042702

 

Компания INSCIENCE является поставщиком надежных решений в области систем квантового шифрования и квантовой связи

Online заявка

 

Теги квантовое распределение ключей детекторы одиночных фотонов
Новые статьи
Квантовая микроскопия клеток с разрешением на пределе Гейзенберга

В статье описывается метод широкопольной квантовой микроскопии с пространственным разрешением 1,4 мкм, основанный на схеме с симметричными плечами холостых и сигнальных фотонов. Преимущества метода: высокие скорость, отношение сигнал/шум и устойчивость к рассеянному свету в сравнении с аналогичными методами квантовой визуализации.

Противодействие атакам с засветкой детекторов одиночных фотонов в системах квантового распределения ключей

В статье рассматриваются методы и аппаратные средства защиты высокоскоростных систем квантового распределения ключей от атак, связанных с засветкой детекторов одиночных фотонов интенсивным лазерным излучением.

Исследование пероральной трансплантации митохондрий с использованием наномоторов для лечения ишемической болезни сердца

Трансплантация митохондрий - важная терапевтическая стратегия восстановления энергообеспечения у пациентов с ишемической болезнью сердца (ИБС), однако есть ограничение в инвазивности метода трансплантации и потерей активности митохондрий. Здесь сообщается об успешной трансплантации митохондрий путем перорального приема для лечения ИБС. Результаты, полученные на животных моделях ИБС, показывают, что накопленные наномоторизованные митохондрии в поврежденной сердечной ткани могут регулировать сердечный метаболизм, тем самым предотвращая прогрессирование болезни.  

Система управления для квантового компьютера на сверхпроводящих кубитах

В обзоре описываются возможности программируемой системы управления квантовыми вычислениями QCCS, разработанной Zurich Instruments. QCCS масштабируется для систем, содержащих свыше 100 кубитов, увеличивает точность выполнения операций, улучшает процесс считывания кубитов, а также позволяет внедрить быструю квантовую обратную связь для эффективной коррекции ошибок.

Исследование характеристик КМОП-камеры с обратной засветкой в видимом диапазоне

В статье исследуются характеристики научной камеры Tucsen Dhyana95 с BSI-sCMOS сенсором (КМОП-сенсором с обратной засветкой) при регистрации видимого излучения. Проводится сравнение характеристик BSI-sCMOS камеры со спецификацией BSI-CCD камеры.

Лазерное ударное упрочнение (LSP) с использованием лазеров Litron

В статье рассматриваются перспективы применения лазерного ударного упрочнения для улучшения эксплуатационных характеристик высококачественной керамики. Для проведения эксперимента используется излучение высокой энергии 2-й, 3-ей и 4-ой гармоник наносекундного Nd:YAG лазера Litron LPY10J.

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3