Коллеги, читайте на нашем сайте статью «Характеристика поляризационных голографических решеток на тонких пленках азополимеров, полученных методом цифровой голографической микроскопии»!
Поляризационные дифракционные решетки формируются путем одноступенчатой поляризационной голографической записи в тонких пленках азополимера. Исследовано влияние параметров решеток в зависимости от дозы облучения, таких как модуляция дифракционной эффективности и глубины рельефа. Фазовая цифровая голографическая микроскопия применяется для измерения фотоиндуцированных поляризационных дифракционных решеток. Для точного получения голограммы и восстановления комплексной амплитуды, прошедшей через них, был выполнен полностью оптический (без движущихся компонентов) фазовый сдвиг, реализованный в системе формирования изображения цифрового голографического микроскопа. Результаты экспериментальных измерений и теоретические прогнозы были сопоставлены и проанализированы.
В работе предлагается технология производства источников неразличимых фотонов в телекоммуникационном С-диапазоне на основе эпитаксиальных полупроводниковых квантовых точек. Новая методика позволяет детерминировано интегрировать квантовые излучатели в микрорезонаторы из кольцевых брэгговских решёток.
В работе реализован протокол BB84 с твердотельным источником одиночных фотонов на основе атомарно тонких слоев WSe2, выделяющийся простотой изготовления и настройки свойств. Система конкурентоспособна в сравнении с передовыми решениями, а с внедрением улучшений в виде микрорезонаторов может превзойти их.
В статье описывается метод широкопольной квантовой микроскопии с пространственным разрешением 1,4 мкм, основанный на схеме с симметричными плечами холостых и сигнальных фотонов. Преимущества метода: высокие скорость, отношение сигнал/шум и устойчивость к рассеянному свету в сравнении с аналогичными методами квантовой визуализации.
г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3