Новинка от Edmund Optics

Дата публикации: 22.10.2020

Ультратонкие блокирующие (Notch) фильтры OD 6.0

Блокировка лазерного излучения для длин волн от 405 до 1064 нм
Оптическая плотность OD (средняя): ≥6,0
Максимальная толщина 300 мкм
Гибкий и нечувствительный к царапинам

Ультратонкие блокирующие фильтры обеспечивают блокировку аналогичную традиционным Notch фильтрам. Созданные из слоев ультратонких полимеров и красителей, эти фильтры нечувствительны к царапинам и могут быть согнуты, чтобы соответствовать изогнутым поверхностям. За пределами полосы блокировки фильтры обеспечивают высокую пропускную способность со средним значением > 85%. Ультратонкие блокирующие фильтры OD 6.0 доступны с центральными длинами волн, соответствующими обычным длинам волн лазера, включая 405 нм, 532 нм, 633 нм, 785 нм и 1064 нм. Они идеально подходят для интеграции в устройства, чувствительные к пространству или весу, а также в лазерные системы спектроскопии комбинационного рассеяния света.

Новые статьи

Сравнение фемтосекундных лазеров различных производителей

В обзоре сравниваются модели фемтосекундных лазеров от уже зарекомендовавших себя производителей и их потенциальные аналоги: Coherent, Ekspla, Spectra-Physics, Light Conversion, Novanta photonics, Авеста, Inngu laser, CNI, Newlight Source, Keyun

Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света.

Сравнение наносекундных лазеров различных производителей

В обзоре сравниваются модели наносекундных лазеров от уже зарекомендовавших себя производителей и их потенциальные аналоги: Ekspla, Litron, Quantel, Bright Solutions, Hubner photonics, CNI, Солар ЛС, Inngu laser, Grace laser, Beamtech.

Точное оптическое детектирование контуров с помощью витой отражающей q-пластины

В работе предлагается оптический детектор контуров, основанный на отражающей витой жидкокристаллической q-пластине. Устройство состоит из зеркала и жидкокристаллического слоя толщиной 1,46 мкм с углом скручивания 69,2°.