Главная / Производители / Ray-motion / Сканирующие 2D системы Ray-motion

Сканирующие 2D системы Ray-motion

2D 合影

Сканирующая 2D система Atom

Диафрагма: 10 мм, 12 мм
Диапазон длин волн: 1064 нм, 1064 нм, 355 нм, 532 нм
Встроенная система управления гарантирует работу сервоприводаНизкий джиттер
Подходит для лазерной маркировки, микроскопии, сверления, обрезки, резки и т. д.

Серия Atom представляет собой полностью цифровую 2D-гальванометрическую систему. Встроенная система управления гарантирует работу сервопривода. Она компактна, стабильна и экономична. Это базовая версия линейки продуктов Ray-Motion. Доступны зеркала с длиной волны, например 1064 нм, 532 нм, 355 нм, 10,6 мкм. Подходит для лазерной маркировки, микроскопии, сверления, обрезки, резки и т. д.


Datasheet          Online заявка

Сканирующая 2D система Quantum

Цифровая 2D гальванометрическая система
Диафрагма: 10 мм, 12 мм, 14 мм, 20 мм, 30 мм, 50 мм
Диапазон длин волн: 1064 нм, 1064 нм, 355 нм, 532 нм
Подходит для высокотехнологичных применений, таких как «царапание» ITO слоя, лазерная микрообработка и т. д.

Полностью цифровая 2D гальванометрическая система Quantum, работающая на базе встроенной платформы. Компактная, стабильная и качественная. Более быстрая и точная. Малые значения дрейфов смещения и усиления. Зеркала с типичной длиной волны лазера доступны и оптимизированы по инерции и жесткости. Подходит для высокотехнологичных применений, таких как «царапание» ITO слоя, лазерная микрообработка и т. д.


Datasheet          Online заявка

Сканирующая 2D система Neutron

Высокоточный цифровой энкодер
Обеспечивает функцию обратной связи по положению в реальном времени (опционально)
Более низкий джиттер, дрейф нуля и стабилизация коэффициента усиления
Подходит для высокоточной сварки, резки, травления и т. д.

Благодаря сочетанию высокоточного цифрового энкодера и технологии цифрового привода датчики серии Neutron имеют более высокое разрешение и более высокую линейность. Гальванометр обеспечивает функцию обратной связи по положению в реальном времени (опционально), что делает возможным полное управление с обратной связью.


Datasheet          Online заявка

Цифровая 2D система XXS

Низкое смещение и дрейф усиления
Мини-двигатель без корпуса
Применяется в медицине, оптической когерентной томографии, микроскопии
Небольшой размер и высокая скорость

Цифровая 2D гальванометрическая система XXS представляет собой мини-двигатель без корпуса с диафрагмой 5-7 мм, применяется в медицине, оптической когерентной томографии, микроскопии, имеет небольшой размер и высокую скорость.


Datasheet          Online заявка

Компания INSCIENCE является официальным дистрибьютором продукции Ray-motion на территории РФ

Новые статьи
Лазерное ударное упрочнение (LSP) с использованием лазеров Litron

В статье рассматриваются перспективы применения лазерного ударного упрочнения для улучшения эксплуатационных характеристик высококачественной керамики. Для проведения эксперимента используется излучение высокой энергии 2-й, 3-ей и 4-ой гармоник наносекундного Nd:YAG лазера Litron LPY10J.

Методы и средства люминесцентной микроскопии

Современные тенденции развития люминесцентной микроскопии направлены, в первую очередь, на повышение разрешающей способности систем формирования изображения. Здесь к лючевую роль играют методы конфокальной и мультифотонной микроскопии.

      
Прецизионная визуализация времени жизни флуоресценции движущегося объекта

Метод временной мозаики FLIM позволяет повысить точность визуализации времени жизни флуоресценции движущихся объектов. Метод основан на записи массива (мозаики) изображений, построении и анализе векторной диаграммы мозаики с помощью специального ПО Becker & Hickl.

Выявление сверхбыстрых компонентов затухания по двухфотонной визуализации времени жизни флуоресценции спор грибов

С помощью системы Becker & Hickl DCS-120 MP со сверхбыстрыми детекторами для визуализации времени жизни флуоресценции исследуется флуоресценция спор различных видов грибов. Исследуются чрезвычайно быстрые компоненты с временем затухания 8 – 80 пс и амплитудами до 99,5% в функциях затухания.

Исследование методов улучшения адгезии проводящего слоя к диэлектрической подложке для аддитивного производства электроники

В статье исследуется, как изменения параметров в методах обработки поверхности подложек приводят к изменениям в процессах адгезии, подчеркивая особенности взаимодействия между методами обработки серной кислотой и УФ-излучением, используя изображения, полученные с помощью интерферометры белого света. 

У Вас особенный запрос?
У Вас особенный запрос?
Весьма часто наши заказчики лучше нас знают, какое оборудование им нужно. В этом случае мы берём на себя общение с производителем, доставку и таможенную очистку, а также все вопросы гарантийного периода. Пожалуйста, заполните эту форму, и мы свяжемся с Вами, чтобы помочь решить любую Вашу задачу. Или позвоните нам по телефону +7(495)199-0-199
Форма заявки
Ваше имя: *
Ваше имя
Ваш e-mail: *
Ваш телефон: *
Ваш телефон
Наши
контакты
г. Москва, ул. Бутлерова, д. 17Б

г. Санкт-Петербург, улица Савушкина 83, корп. 3